[发明专利]合成全工况试验装置辅助阀触发与检测编码有效
| 申请号： | 200610064923.9 | 申请日： | 2006-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1834676A | 公开（公告）日： | 2006-09-20 |
| 发明（设计）人： | 温家良;任孟干;王华峰;潘艳 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/12;G01R31/00;G01R1/28 |
| 代理公司： | 信息产业部电子专利中心 | 代理人： | 郭禾 |
| 地址： | 100085北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种合成全工况试验装置辅助阀触发与检测编码。在起振阶段，第一辅助阀和第三辅助阀的连续触发脉冲分为持续时间为150us的连续触发脉冲和三个检测单脉冲，每个脉冲间隔100us，检测晶闸管阀状态与光通道状态；谐振电容充电电压达到一定值时分为触发脉冲和三个检测单脉冲，检测阀状态与光通道状态；第二辅助阀和第四辅助阀触发编码分为连续触发脉冲和三个检测单脉冲，检测阀状态与光通道；检测编码则分别回报阀负压和光通道状态。本发明可实现辅助阀可靠触发，防止误触发；准确回报光通道和阀状态；很好地实现对辅助阀的触发和检测。 | ||
| 搜索关键词： | 成全 工况 试验装置 辅助 触发 检测 编码 | ||
【主权项】：
1、一种合成全工况试验装置辅助阀触发与检测编码，其特征在于：触发与检测编码的构成如下：(1)、第一辅助阀V1和第三辅助阀V3的触发与检测编码①、第一辅助阀V1和第三辅助阀V3的触发编码试品晶闸管阀所需的高电压通过控制第一辅助阀V1和第三辅助阀V3，利用充电机给谐振电容充电得到；在起振阶段，第一辅助阀V1和第三辅助阀V3两端的电压值较小，采用第一脉冲连续触发脉冲触发第一辅助阀V1和第三辅助阀V3，脉冲分为AB两部份如下：A部分脉冲：持续时间为150us的连续触发脉冲；B部分脉冲：三个检测单脉冲，每个脉冲间隔100us，检测晶闸管阀状态与光通道状态；谐振电容充电电压达到5000V时，触发与检测脉冲为第二脉冲，分为AB两部分：A部分脉冲：为触发脉冲；B部分脉冲：三个检测单脉冲，检测阀状态与光通道状态；②、第一辅助阀V1和第三辅助阀V3的检测编码第一辅助阀V1检测编码：第一辅助阀V1在工作状态，触发与检测脉冲为第二脉冲；B部分第一个单脉冲后回报V1阀负压，第三个单脉冲后回报光通道状态；第一辅助阀V1在闭锁状态，检测脉冲为第三脉冲；单脉冲后回报光通道状态；第三辅助阀V3检测编码：第三辅助阀V3在闭锁状态，触发与检测脉冲为第三脉冲；B部分第一个单脉冲后回报正压；第三辅助阀V3在工作状态，触发与检测脉冲为第二脉冲；B部分第一个单脉冲后回报负压，第三个单脉冲后回报光通道状态；(2)、第二辅助阀V2触发与检测编码①、辅助阀V2触发编码辅助阀V2触发编码为第四脉冲，分为AB两部分：A部分脉冲：为频率3333.33Hz连续触发脉冲；B部分脉冲：三个检测单脉冲，每个脉冲间隔100us；检测阀状态与光通道；②、辅助阀V2检测编码第二辅助V2阀在工作过程中，检测脉冲为第四脉冲，B部分第一个脉冲后回报V2阀负压，第三个脉冲后回报光通道状态；(3)、第四辅助阀V4触发与检测编码①、第四辅助阀V4触发编码第四辅助阀V4触发编码为第五脉冲，分为AB两部分：A部分脉冲：为频率3333.33Hz连续触发脉冲；B部分脉冲：三个检测单脉冲，每个脉冲间隔100us；检测阀状态与光通道；②、第四辅助阀V4检测编码第四辅助阀V4在工作过程中，检测脉冲为第五脉冲，B部分第一个脉冲后回报第四辅助阀V4负压，第三个脉冲后回报光通道状态。
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- 和俊莉;王丹;张文涛;陈磊;钱俊有;蔡水占;刘栓红 - 河南鸿昌电子有限公司
- 2013-07-24 - 2013-12-11 - G01R31/26
- 本实用新型涉及半导体器件测试领域，具体地说是涉及一种致冷件性能测试装置。一种致冷件性能测试装置，包括测试装置本体，其特征在于：所述的测试装置本体上设有电源，所述的电源正极连接电压调节器，所述的电压调节器连接测试仪，所述的测试仪连接电源负极，所述的测试仪设有1-5个。这样结构的一种致冷件性能测试装置具有效率高、测试简单的优点。
- 用于电子装置测试的对准系统-201280016246.7
- 马修·S·卡麦隆 - 电子科学工业有限公司
- 2012-03-30 - 2013-12-11 - G01R31/26
- 一种用于相对于测试站对准一个或一个以上受测试装置的对准系统包含：载具，其经配置以载运所述一个或一个以上受测试装置；传送器，其经配置以使所述载具与所述传送器一致地移动；及对准结构。所述对准结构可与所述载具啮合以使所述载具相对于所述传送器移动，从而相对于所述测试站对准所述受测试装置中的至少一者。
- CMOS晶圆自动测试直针自动测试插座-201310393484.6
- 朱小刚;柳慧敏 - 苏州创瑞机电科技有限公司
- 2013-09-03 - 2013-12-04 - G01R31/26
- 本发明公开了一种CMOS晶圆自动测试直针自动测试插座，包括相互配合的灯箱和测试底座，所述底座包括从上到下依次分布的PCB转接板、测试单元和测试镜头，所述测试镜头前方设置主要由光源组成的灯箱，其中，所述测试单元包括复数根测试探针以及用以安装测试探针的探针保持主体、探针保持板和探针保持框，并且，在测试时，被测试晶圆设于测试镜头和测试单元之间，且测试镜头与光源之间还设有对比图像。本发明实现了CMOS晶圆的自动化测试，同时使CMOS晶圆测试简单化，测试操作简单易行，且机械结构简单，适于多种规格晶圆的测试。
- 用于测试晶闸管阀的装置-201310192739.2
- 白承泽;韩炳文;鲁义哲;郑容昊;李旭和 - LS产电株式会社;明知大学校产学协力团
- 2013-05-22 - 2013-12-04 - G01R31/26
- 本发明提供一种用于测试晶闸管阀的装置，其包括：电流源电路，其在作为测试目标的晶闸管阀导通时提供电流；电压源电路，其在所述晶闸管阀关断时提供反向电压或者正向电压；以及第一辅助阀，其设置在所述晶闸管阀与所述电压源电路之间的连接点与所述电流源电路之间，并且所述第一辅助阀将所述电流源电路与所述电压源电路绝缘以保护所述电流源电路免受所述电压源电路的高电压破坏。
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