[实用新型]一种采用双波长结构光测量物体轮廓的装置

摘要

本实用新型涉及一种采用双波长结构光测量物体轮廓的装置，属于光学测量技术领域。本装置包括：投影仪，与计算机相连接，用于产生一束经正弦调制后的白光，照相机，与计算机相连接，用于拍摄在上述白光的照明光场中待测物体的图像，照相机与投影仪的连线与所述的参考平面平行，投影仪和照相机与参考平面之间的距离为L，投影仪与照相机之间的距离为d，计算机，用于控制投影仪产生具有特定结构的白光，并接收照相机拍摄的图像后进行处理。本实用新型的提出的装置，可以测量表面形状比已有技术更加复杂的物体，而且测量精度高于已有技术。

主权项

1、一种采用双波长结构光测量物体轮廓的装置，其特征在于该装置包括：(1)投影仪，用于产生一束经正弦调制后的白光，该白光的亮度值为：${\mathrm{Iout}}_i(m,n,{\delta }_i)=\cos [\frac{m}{p}\times 2\pi +{\delta }_i],$ p1为正弦调制的波长，m、n为光场在参考平面上的坐标，δi为相移量，${\delta }_i\in (-\frac{\pi }{2},\frac{\pi }{2}),$ 与计算机相连接；(2)照相机，用于拍摄在上述白光的照明光场中待测物体的图像，照相机与投影仪的连线与所述的参考平面平行，投影仪和照相机与参考平面之间的距离为L，投影仪与照相机之间的距离为d，与计算机相连接；(3)计算机，用于控制投影仪产生具有特定结构的白光，并接收照相机拍摄的图像后进行处理。