[实用新型]教学用半导体制冷露点测试仪无效
| 申请号： | 200520048076.8 | 申请日： | 2005-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN2852124Y | 公开（公告）日： | 2006-12-27 |
| 发明（设计）人： | 陈发堂;邹乾林 | 申请（专利权）人： | 上海电力学院 |
| 主分类号： | G01N25/66 | 分类号： | G01N25/66;G09B23/16 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200090上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种一种教学用半导体制冷露点测试仪，它由半导体制冷元件、镜面及其上面罩有的气室和铂电阻传感器测温元件构成，其特点是，半导体制冷元件用单级半导体，热端用水冷却，在镜面上产生露点通过放大镜检测，铂电阻传感器测温元件用3线铂电阻传感器PT100，所述的气室外壳由透明材料制成，在其下部开有用于镜面清洁小孔。露点仪气室的外壳为透明材料制成，用放大镜探测系统检测镜面上的露点，这有利于人员在外观察露点产生的过程。它把热力学实验与光电技术、半导体制冷技术等相结合，是一个集多种实验技术的实验装置，而且结构简单，价格便宜，直观性好，在教学中取得了很好的教学效果。 | ||
| 搜索关键词： | 教学 半导体 制冷 露点 测试仪 | ||
【主权项】：
1、一种教学用半导体制冷露点测试仪，它由半导体制冷元件、镜面及其上面罩有的气室和铂电阻传感器测温元件构成，其特征在于，半导体制冷元件用单级半导体(7)，热端用水冷却，在镜面(1)上产生露点通过放大镜(2)观察，铂电阻传感器测温元件用3线铂电阻传感器PT100(6)，所述的气室外壳由透明材料制成，在其下部开有用于镜面清洁小孔(4)。
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