[发明专利]一种绝缘阻抗测试方法无效

专利信息
申请号: 200510136183.0 申请日: 2005-12-20
公开(公告)号: CN1987494A 公开(公告)日: 2007-06-27
发明(设计)人: 林志南 申请(专利权)人: 达方电子股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R31/02;G01R31/12
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临;王志森
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种绝缘阻抗测试方法,用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗,包括:(a)对第1至第M条的导线,定义M的条件需满足:2n<M≤2n+1,且n为正整数;(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,i的初始值为1,各群的导线数分别为N1,N2,且N1≥N2;(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的导线分别短路;(d)测试奇数群及偶数群的导线间的绝缘阻抗值;(e)当i小于n+1时,将i递增1;当i大于或等于1时,结束此测试方法;(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,各群的导线数分别为N1,N2,...N2i,且N1≥N2≥...≥N2i,并重复步骤(c)。
搜索关键词: 一种 绝缘 阻抗 测试 方法
【主权项】:
1.一种绝缘阻抗测试方法,用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗,该绝缘阻抗测试方法包括:(a)对第1至第M条的该些导线,定义M的条件需满足:2n<M≤2n+1,且n为正整数;(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,i的初始值为1,各群的导线数分别为N1,N2,且N1≥N2;(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的该些导线分别短路;(d)测试该奇数群及该偶数群的该些导线间的绝缘阻抗值;(e)当i小于n+1时,将i递增1;当i大于或等于n+1时,结束该绝缘阻抗测试方法;以及(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,各群的导线数分别为N1,N2,...N2i,且N1≥N2≥...≥N2i,并重复步骤(c)。
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