[发明专利]一种绝缘阻抗测试方法无效
申请号: | 200510136183.0 | 申请日: | 2005-12-20 |
公开(公告)号: | CN1987494A | 公开(公告)日: | 2007-06-27 |
发明(设计)人: | 林志南 | 申请(专利权)人: | 达方电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R31/02;G01R31/12 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临;王志森 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种绝缘阻抗测试方法,用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗,包括:(a)对第1至第M条的导线,定义M的条件需满足:2n<M≤2n+1,且n为正整数;(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,i的初始值为1,各群的导线数分别为N1,N2,且N1≥N2;(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的导线分别短路;(d)测试奇数群及偶数群的导线间的绝缘阻抗值;(e)当i小于n+1时,将i递增1;当i大于或等于1时,结束此测试方法;(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,各群的导线数分别为N1,N2,...N2i,且N1≥N2≥...≥N2i,并重复步骤(c)。 | ||
搜索关键词: | 一种 绝缘 阻抗 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种绝缘阻抗测试方法,用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗,该绝缘阻抗测试方法包括:(a)对第1至第M条的该些导线,定义M的条件需满足:2n<M≤2n+1,且n为正整数;(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,i的初始值为1,各群的导线数分别为N1,N2,且N1≥N2;(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的该些导线分别短路;(d)测试该奇数群及该偶数群的该些导线间的绝缘阻抗值;(e)当i小于n+1时,将i递增1;当i大于或等于n+1时,结束该绝缘阻抗测试方法;以及(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群,各群的导线数分别为N1,N2,...N2i,且N1≥N2≥...≥N2i,并重复步骤(c)。
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