[发明专利]物体微跌测试方法和装置有效
| 申请号： | 200510111358.2 | 申请日： | 2005-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1979121A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 刘贤琦 | 申请（专利权）人： | 上海晨兴电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/303 | 分类号： | G01N3/303;G01M7/08 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 薛琦 |
| 地址： | 201700*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种物体微跌测试方法，将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。本发明还公开了一种用于上述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，还包括一个与该气缸相连的托板。本发明能够同时测试多个测试物体，提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 物体 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种物体微跌测试方法，其特征在于，其将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。
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