[发明专利]半导体存储器件无效

专利信息
申请号: 200510091698.3 申请日: 2005-08-05
公开(公告)号: CN1750169A 公开(公告)日: 2006-03-22
发明(设计)人: 末冈厚志 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11C11/401 分类号: G11C11/401;H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 沈昭坤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体存储器件包括:多个存储单元配置成矩阵状的第1存储单元阵列,所述各存储单元具有存储单元晶体管和存储单元电容器,所述存储单元电容器具有第1电极和第2电极;通过所述存储单元晶体管与所述第1电极连接的多条位线;与所述存储单元晶体管的栅极电极连接的多条字线;以及向所述第2电极供给规定电位的极板电位发生电路1。所述极板电位发生电路1配置在所述字线的延长方向即第1方向并离配置在所述第1存储单元阵列两侧的存储单元大致相同距离的第1线上。
搜索关键词: 半导体 存储 器件
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:多个存储单元配置成矩阵状的第1存储单元阵列,所述各存储单元具有存储单元晶体管和存储单元电容器,所述存储单元电容器具有第1电极和第2电极;通过所述存储单元晶体管与所述第1电极连接的多条位线;与所述存储单元晶体管的栅极电极连接的多条字线;以及向所述第2电极供给规定电位的第1极板电位发生电路,其特征在于,所述第1极板电位发生电路配置在是所述字线的延长方向即第1方向并离配置在所述第1存储单元阵列两侧的存储单元大致相同距离的第1线上。
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