[发明专利]半导体存储器件无效
申请号: | 200510091698.3 | 申请日: | 2005-08-05 |
公开(公告)号: | CN1750169A | 公开(公告)日: | 2006-03-22 |
发明(设计)人: | 末冈厚志 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11C11/401 | 分类号: | G11C11/401;H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沈昭坤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体存储器件包括:多个存储单元配置成矩阵状的第1存储单元阵列,所述各存储单元具有存储单元晶体管和存储单元电容器,所述存储单元电容器具有第1电极和第2电极;通过所述存储单元晶体管与所述第1电极连接的多条位线;与所述存储单元晶体管的栅极电极连接的多条字线;以及向所述第2电极供给规定电位的极板电位发生电路1。所述极板电位发生电路1配置在所述字线的延长方向即第1方向并离配置在所述第1存储单元阵列两侧的存储单元大致相同距离的第1线上。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:多个存储单元配置成矩阵状的第1存储单元阵列,所述各存储单元具有存储单元晶体管和存储单元电容器,所述存储单元电容器具有第1电极和第2电极;通过所述存储单元晶体管与所述第1电极连接的多条位线;与所述存储单元晶体管的栅极电极连接的多条字线;以及向所述第2电极供给规定电位的第1极板电位发生电路,其特征在于,所述第1极板电位发生电路配置在是所述字线的延长方向即第1方向并离配置在所述第1存储单元阵列两侧的存储单元大致相同距离的第1线上。
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