[发明专利]确定细长物体的尖端在具有不变特征的平面上的绝对位置的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200480038138.5 申请日: 2004-12-22
公开(公告)号: CN101073093A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: D·H·布尔曼;M·J·曼德拉;S·R·卡尔;G·G·张;H·H·冈萨雷斯-班诺斯 申请(专利权)人: 电子手写产品公司
主分类号: G06M7/00 分类号: G06M7/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 钱慰民
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于在尖端与具有不变特征的平面接触时确定细长物体的姿势及其尖端的绝对位置的方法和装置。该平面和特征用探射光照亮,并检测以相对于物体轴成角度2地从平面和特征返回到细长物体的探射光的散射部分,例如反向散射部分。姿势根据散射部分对平面和特征的响应来推导,且尖端在平面上的绝对位置根据该姿势和有关特征的知识来获得。探射光可用扫描光束的形式与物体轴成角度Q地从物体导向平面。可使该扫描光束借助于具有一个或多个臂和一个或多个单轴或双轴扫描仪的扫描装置来跟随扫描图案。角度1也可例如借助于如用来将探射光导向平面的单个或同一个扫描装置而改变。物体可以是触针、机械臂、手杖、或诸如钢笔等书写工具,而特征可以是属于、置于或附于物体尖端与之相接触的平面上的边缘、微观结构或宏观结构。
搜索关键词: 确定 细长 物体 尖端 具有 不变 特征 平面 绝对 位置 方法 装置
【主权项】:
1.一种方法,用于确定具有接触具有一不变特征的平面的尖端的细长物体的姿势,所述方法包括:a)用探射光照亮所述平面和所述不变特征;b)检测以相对于所述细长物体的轴成角度τ返回到所述细长物体的探射光的散射部分;c)根据所述散射部分对所述平面和所述不变特征的响应来推导所述姿势;以及d)根据所述姿势和所述不变特征来获得所述尖端在所述平面上的绝对位置。
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