[发明专利]离子掺杂装置、离子掺杂方法以及半导体装置无效
| 申请号: | 200480015240.3 | 申请日: | 2004-05-31 | 
| 公开(公告)号: | CN1799124A | 公开(公告)日: | 2006-07-05 | 
| 发明(设计)人: | 中西健;相地广西 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 | 
| 主分类号: | H01L21/265 | 分类号: | H01L21/265;H01L21/336;H01L29/786;H01J27/08;H01J37/08;H01J37/317 | 
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李贵亮;杨梧 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | 一种离子掺杂装置、离子掺杂方法以及半导体装置。离子掺杂装置包括:腔室(11);排气部(13),其排出腔室内的气体;离子源(12),其设置在腔室内,具有对含有要掺杂的元素的气体进行导入的导入口(14)、放出热电子的灯丝(15)以及用于在与所述灯丝之间进行电弧放电的阳极电极(17),通过电弧放电使气体分解,生成含有要掺杂的元素的离子;加速部(23),其从离子源(12)引出在离子源(12)生成的离子并且朝向对象物加速,控制电弧放电,使在灯丝和电弧电极之间流动的电弧电流一定。 | ||
| 搜索关键词: | 离子 掺杂 装置 方法 以及 半导体 | ||
【主权项】:
                1.一种离子掺杂装置,其中,包括:腔室;排气部,其排出所述腔室内的气体;离子源,其设置在所述腔室内,具有对含有要掺杂的元素的气体进行导入的导入口、放出热电子的灯丝以及用于在与所述灯丝之间进行电弧放电的阳极电极,通过所述电弧放电来分解所述气体,生成含有所述要掺杂的元素的离子;加速部,其从所述离子源引出在所述离子源生成的离子,并且朝向对象物加速,控制所述电弧放电,使在所述灯丝和所述阳极电极之间流动的电弧电流成为一定。
            
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                    H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
                
            H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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