[发明专利]用于检测半导体电路曝露于紫外光中的方法和设备无效
| 申请号： | 200480005671.1 | 申请日： | 2004-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN1771564A | 公开（公告）日： | 2006-05-10 |
| 发明（设计）人： | S·C·霍尔默 | 申请（专利权）人： | 恩莫辛美国有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/04 | 分类号： | G11C16/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;梁永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 所公开的方法和设备用于检测是否半导体电路被曝露于紫外光。紫外光检测电路检测曝露于紫外光，并且将自动激活安全侵害信号。安全侵害信号可随意地启动程序以从存储器清除感光数据，或者防止半导体电路的进一步操作。例如，通过采用专用非易失性存储器单元的小阵列，紫外光检测电路检测是否半导体电路被曝露于紫外光。分别采用对应于程序和擦除的至少两个有源位线blprg和bler。有源位线中的一个是只可编程的，而另一个位线是只可擦除的。通常，专用非易失性存储器中的所有位最初是在大约相同的状态，其可以被擦除、编程或在某个时候在两者之间。向一个位线加偏置电流，且使用作为结果的电流差的变化以检测曝露于紫外光。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 半导体 电路 曝露 紫外光 中的 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种半导体电路，包括：用于执行一个或多个指令的处理器；存储器；以及用于检测是否所述半导体电路被曝露于紫外光的电路。
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