[发明专利]双通型光谱测量装置及其极化相关性的消除方法无效

专利信息
申请号: 200410091029.1 申请日: 2004-11-16
公开(公告)号: CN1776381A 公开(公告)日: 2006-05-24
发明(设计)人: 叶峻毅 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01J3/18 分类号: G01J3/18;G01J3/28
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 刘国伟;邢好路
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明的双通型光谱测量装置包含一可产生一光束的光源、一可准直该光束的第一镜片、一设置于该光源与该第一镜片间的双向光束分离组件、一可将该光束分离成不同波长的子光束的波长分离组件、一设置于该子光束的光路上的极化相位延迟组件、一可将该子光束反射至该极化相位延迟组件的光束反射组件以及一光检测器。该极化相位延迟组件可为一消色差1/4相位延迟波片或1/4相位延迟波片。该子光束通过该极化相位延迟组件两次导致其极化方向旋转90度,因而分别以水平极化方向及垂直极化方向通过该波长分离组件各一次,以消除极化相关性。
搜索关键词: 双通型 光谱 测量 装置 及其 极化 相关性 消除 方法
【主权项】:
1.一种双通型光谱测量装置,其特征在于包含:一光源,可产生一光束;一第一镜片,可准直该光束;一双向光束分离组件,设置于该光源与该第一镜片之间;一波长分离组件,可将该光束分离成不同波长的子光束;一极化相位延迟组件,设置于该子光束的光路上,可调整该子光束的极化角度;一光束反射组件,可反射该子光束。
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