[发明专利]光学物体识别装置和印制设备无效
| 申请号： | 200410074925.7 | 申请日： | 2004-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN1595308A | 公开（公告）日： | 2005-03-16 |
| 发明（设计）人： | 山口阳史 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G03G15/08 | 分类号： | G03G15/08;G03G21/00;B65H7/14 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李瑞海;王景刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光学物体识别装置，包括发光装置、第一光电探测器和第二光电探测器。在该光学物体识别装置中，形成于发光装置的光学轴线和待检薄片表面之间的角度为10至30度，形成于第一光电探测器的光学轴线和薄片表面之间的角度为10至30度，形成于第二光电探测器的光学轴线和薄片表面之间的角度大约为90度。于是，发光装置、第一光电探测器和第二光电探测器被设置在最佳位置，使得第一光电探测器和第二光电探测器可以获得随着各种薄片而不同的两个输出值。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 物体 识别 装置 印制 设备 | ||
【主权项】：
1.一种光学物体识别装置，包括：发光装置；第一光电探测器和第二光电探测器，在光从所述发光装置发射到待检物体表面之后，所述第一、二光电探测器接收来自待检物体表面的反射光；识别器，用来基于所述第一光电探测器和第二光电探测器输出的输出值识别待检物体的类型，其中，所述发光装置和所述第一光电探测器分别位于所述发光装置的光学轴线和待检物体表面的交点处确定的法线两侧，所述发光装置被设置为使得所述发光装置的光学轴线和待检物体表面之间的角度为10至30度，所述第一光电探测器被设置为使得所述第一光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度为10至30度，所述第二光电探测器被设置为使得所述第二光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度大约为90度。
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