[发明专利]光束特性评价装置有效
| 申请号： | 200410064492.7 | 申请日： | 1998-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN1573597A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 尾崎绅一;阿部克志;高桥伸公 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G03G15/04 | 分类号： | G03G15/04 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 黄剑锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开一种光束特性评价装置，光束特性评价方法的特征在于通过使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的方式，对光束所需要的特性进行评价，其可正确地对光束直径或光束形状进行评价。该评价装置具有：使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的发光控制回路；设置在所述被扫描面处的、对由所述的束光光源射出的光束实施检测用的光束检测组件；及依据所述光束检测组件的检测结果对所述光束所需要的特性进行评价用的评价处理组件。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 特性 评价 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光束特性评价装置，具有：使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的发光控制回路；设置在所述被扫描面处的、对由所述的束光光源射出的光束实施检测用的光束检测组件；依据所述光束检测组件的检测结果对所述光束所需要的特性进行评价用的评价处理组件。
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