[发明专利]半导体读出电路无效
| 申请号： | 200410061527.1 | 申请日： | 2004-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN1637951A | 公开（公告）日： | 2005-07-13 |
| 发明（设计）人： | 森川佳直 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/06 | 分类号： | G11C16/06;G11C16/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘宗杰;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的半导体读出电路配备：在读出存储于存储单元中的信息之前，将连接在存储单元中的位线BL充电到规定的预充电电压的预充电电路(5)；控制位线BL的电压，使之成为规定电压的反馈型偏置电路(2)；通过反馈型偏置电路(2)的传输门(20)，放大并检测连接在位线(BL)上的读出输入节点(N1)的电压变化的读出放大器(4)；以及对读出输入节点(N1)充电的负载电路(3)。该负载电路(3)在预充电电路(5)被激活的预充电期间的至少结束之前的预定期间的期间未被激活，在预充电期间结束后被激活。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 读出 电路 | ||
【主权项】：
1、一种半导体读出电路，其特征在于：配备：在读出存储于存储单元中的信息前，将连接在上述存储单元中的位线充电到规定的预充电电压的预充电电路；进行控制使上述位线的电压成为规定电压的反馈型偏置电路；通过上述反馈型偏置电路的传输门，放大并检测连接在上述位线上的读出输入节点的电压变化的读出放大器；以及对上述读出输入节点充电的负载电路，上述负载电路在上述预充电电路激活的预充电期间的至少结束之前的一定期间的期间不被激活，在上述预充电期间结束后被激活。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社，未经夏普株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410061527.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
