[发明专利]集成电路复位方法及复位系统有效
| 申请号： | 200410058549.2 | 申请日： | 2004-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN1588639A | 公开（公告）日： | 2005-03-02 |
| 发明（设计）人： | 刘迪军;李峰 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/82 | 分类号： | H01L21/82;H01L27/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 胡晶;王学强 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路的复位方法和复位系统，用于完成集成电路芯片各个模块的复位，该方法包括：(1)根据集成电路内连接复位信号的触发器的复位信号的延时时间，获得延时时间差TD，延时时间差为集成电路中所有触发器的复位信号中最慢复位信号的延时时间和最快复位信号的延时时间之差；(2)设置一复位时间TC，复位时间TC至少大于TD一个时钟周期；(3)各个触发器分别接收系统复位信号，开始复位操作；(4)在所述最快复位信号消失后，等待TC，再向各个触发器发送同步时钟信号，以使所述模块进行逻辑运算。通过上述复位方法及系统，使得集成电路在复位电路设计时，无需增加额外的延时缓冲器。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 复位 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种复位方法，用于完成集成电路芯片各个模块的复位，其特征在于：包括：(1)根据集成电路内连接复位信号的触发器的复位信号的延时时间，获得延时时间差TD，所述延时时间差为所述集成电路中所有触发器的复位信号中最慢复位信号的延时时间和最快复位信号的延时时间之差；(2)设置一复位时间TC，所述复位时间TC至少大于TD一个时钟周期；(3)各个触发器分别接收系统复位信号，开始复位操作；(4)在所述最快复位信号消失后，等待TC时间，再向所述各个触发器发送同步时钟信号，以使所述模块进行逻辑运算。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
