[发明专利]用于分析测量电容的方法和电路装置有效
| 申请号： | 200410042113.4 | 申请日： | 2004-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN1576861A | 公开（公告）日： | 2005-02-09 |
| 发明（设计）人： | M·梅勒特;J·费希特;H·奥贝特 | 申请（专利权）人： | 维加·格里沙伯股份公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;张志醒 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于分析测量装置的测量电容(CM)的方法，其具有以下步骤：经第一充电时间(tk1，tk2)对所述电容(CM)充电，以及确定所述电容的电荷以作为第一个测量值(tm1)。为确定改变所述电容的基本状态的测量条件、例如相对于测量单元的干燥环境的潮湿环境，本发明具有下列附加的步骤：经不同于所述第一充电时间的第二充电时间(tk2)对所述电容(CM)充电，确定所述电容(CM)的电荷以作为第二个测量值(tm2)，以及将所述第一和第二测量值(tk1，tk2)进行相互比较以确定比较结果(Δtm)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 测量 电容 方法 电路 装置 | ||
【主权项】：
1.用于分析测量装置的测量电容(CM)的方法，具有以下步骤：-经过第一充电时间(tk1，tk2)对所述电容(CM)进行充电，-确定所述电容的电荷以作为第一个测量值(tm1)，其特征在于下列附加的步骤：-经过不同于第一充电时间(tk1)的第二充电时间(tk2)对所述电容(CM)进行充电，-确定所述电容(CM)的电荷以作为第二个测量值(tm2)，以及-为确定比较结果(Δtm)，将第一个和第二个测量值(tk1，tk2)进行相互比较，以便确定改变所述电容(CM)的基本状态的测量条件。
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