[发明专利]半导体器件制造用粘接片及用此粘接片的半导体器件和制法有效

专利信息
申请号: 200410038795.1 申请日: 2004-03-23
公开(公告)号: CN1622279A 公开(公告)日: 2005-06-01
发明(设计)人: 佐藤健;清章训 申请(专利权)人: 株式会社巴川制纸所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/52;H01L21/58
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张平元;赵仁临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种具有含耐热性基层材料和粘接剂层的层压体,在粘接剂层含有热塑性树脂成分(b)和再剥离性附加成分(c)的引线框架或布线基板上可剥离粘贴的半导体器件制造用粘接片,在用于制造QFN等半导体器件的情况下,维持了良好的导线焊接性、模压毛边特性,并防止粘接剂转移,从而防止半导体器件的不合格化。
搜索关键词: 半导体器件 制造 用粘接片 粘接片 制法
【主权项】:
1.一种半导体器件制造用粘接片,该粘接片是在引线框架或布线基板上可剥离粘贴的半导体器件制造用粘接片,其特征在于,具有含耐热性基层材料和粘接剂层的层压体,该粘接剂层含有热塑性树脂成分(b)和给予再剥离性成分(c)。
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