[发明专利]一种荧光材料变温特性的测量装置及方法无效
| 申请号： | 200410023281.9 | 申请日： | 2004-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN1584553A | 公开（公告）日： | 2005-02-23 |
| 发明（设计）人： | 谢中;周艳明;王祝盈;陈小林;王秋艳 | 申请（专利权）人： | 湖南大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N25/00 |
| 代理公司： | 长沙市融智专利事务所 | 代理人： | 颜昌伟 |
| 地址： | 410006*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光材料变温特性的测量装置及方法，包括温控装置、样品台和透镜、紫外光源、光谱仪、光具座、滑轨，所述温控装置与样品台相连，透镜置于样品台与光谱仪之间，样品台、透镜置于滑轨上面的光具座上，透镜将紫外激发的荧光会聚成平行光后对准光谱仪的狭缝，紫外光源设于样品台前方的一侧。本测量装置结构简单，造价低廉，并且操作简便，可灵活采用不同波长的光源激励荧光材料，实现各种不同波长光源激励下荧光样品的温度特性测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 材料 特性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种荧光材料变温特性的测量装置，其特征在于：包括温控装置、样品台和透镜、紫外光源、光谱仪、光具座、滑轨，所述温控装置与样品台相连，透镜置于样品台与光谱仪之间，样品台、透镜置于滑轨上面的光具座上，透镜将紫外激发的荧光会聚成平行光后对准光谱仪的狭缝，紫外光源设于样品台前方的一侧。
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