[发明专利]基于可满足性的组合电路等价性检验方法有效

专利信息
申请号: 200410007711.8 申请日: 2004-03-05
公开(公告)号: CN1560769A 公开(公告)日: 2005-01-05
发明(设计)人: 李光辉;李晓维 申请(专利权)人: 中国科学院计算技术研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100080*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及超大规模集成电路设计验证技术领域,特别是组合电路的形式验证方法——等价性检验方法。该方法是以可满足性算法为引擎,增量地验证整个电路设计,所述方法具有两个阶段,第一阶段是确定两个电路内部的候选等价信号,并通过电路结构分析,对候选等价信号作静态筛选,第二阶段是通过子句分组实现增量可满足性方法,并验证每对候选信号的等价性。其主要特点在于:1)通过电路结构分析对电路内部的候选等价信号进行筛选,在验证过程中则动态地选择分割集中的等价信号,保证分割集中信号是相互独立的。2)通过对子句进行分组,来实现增量的可满足性算法,节省计算资源,提高算法性能和处理能力。
搜索关键词: 基于 满足 组合 电路 等价 检验 方法
【主权项】:
1、一种基于可满足性的组合电路等价性检验方法,其特征在于,所述方法具有两个阶段,第一阶段是确定两个电路内部的候选等价信号,并通过电路结构分析,对候选等价信号作静态筛选,第二阶段是通过子句分组实现增量可满足性方法,并验证每对候选信号的等价性。
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