[发明专利]一种用于射线探伤底片分析管理方法无效

专利信息
申请号: 200310104941.1 申请日: 2003-10-28
公开(公告)号: CN1540325A 公开(公告)日: 2004-10-27
发明(设计)人: 张家勤 申请(专利权)人: 张家勤
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18;G01N23/083;G06F17/40
代理公司: 沈阳利泰专利代理有限公司 代理人: 李枢
地址: 118000辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种用于射线探伤底片分析管理方法,先将一台用于射线探伤底片的透射扫描仪和数码相机读取卡与一台电子计算机的输入端相连接;再将射线探伤底片描仪入计算机中,同时将由数码相机拍照的射线探伤实物由读取卡输入计算机中;然后将计算机内预置的若干个标准等级样片与输入底片比较,判断是否有缺陷,根据缺陷划分焊接质量的等级;按照探伤底片号,拍照日期,产品编号及出厂编号分类查找原资料;最后将射线探伤底片通过计算机处理后的信息,布入计算机内存或由刻录机刻录成光盘保存,并可根据需要由打印机输出,填写有质量标准及返修过程的检测报告;且可以发送网上向高级探伤人员咨询。本发明可加快检验的速度、降低成本,同时提高了准确性和可靠性。
搜索关键词: 一种 用于 射线 探伤 底片 分析 管理 方法
【主权项】:
1、一种用于射线探伤底片分析管理方法,其特征是:(1)、将一台用于射线探伤底片的透射扫描仪和数码相机读取卡与一台电子计算机的输入端相连接,电子计算机的输出端连接一台光盘刻录机和一台打印机;(2)、将射线探伤底片由透射扫描仪输入计算机中,同时将由数码相机拍照的射线探伤实物由读取卡输入计算机中;(3)、将计算机内预置的若干个标准等级样片与输入底片比较,判断是否有缺陷,根据缺陷划分焊接质量的等级;(4)、按照探伤底片号,拍照日期,产品编号及出厂编号分类;(5)、按分类的某项查找原资料;(6)、将射线探伤底片通过计算机处理后的信息,布入计算机内存或由刻录机刻录成光盘保存,并可根据需要由打印机输出,填写有质量标准及返修过程的检测报告;(7)、对射线探伤底片的质量不能认定,可以发送网上向高级探伤人员咨询。
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