[发明专利]用于半导体集成电路的可测试性的技术无效
| 申请号： | 03158977.4 | 申请日： | 2003-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1495434A | 公开（公告）日： | 2004-05-12 |
| 发明（设计）人： | 杉村幸夫;小川淳 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王玮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了一种用于半导体集成电路的可测试性的技术。在第一步骤中，根据预定的测试模式进行故障模拟，以便将可检测的故障和不可检测的故障相互区分开来。在第二步骤中，列出未检测出的故障。在第三步骤中，确定用于未检测出的故障的测试条件。在第四步骤中，从多个测试模式当中选择最有可能满足测试条件的测试模式。在第五步骤中，利用扫描寄存器替代与未检测出的故障相关的寄存器，同时将该扫描寄存器连接为扫描链，从而组成改进的电路。在第六步骤中，在使用用于改进电路的测试模式未能检测出故障的时刻，通过切换到在第三步骤中确定的测试条件来进行故障模拟。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 集成电路 测试 技术 | ||
【主权项】：
1.一种用于半导体集成电路的可测试性的技术，包括：第一步骤，根据预定的测试模式对半导体集成电路进行故障模拟，并将可检测的故障和不可检测的故障相互区分开来；第二步骤，列出不可检测的故障作为未检测出的故障；第三步骤，确定用于测试该未检测出的故障的测试条件；第四步骤，从第一步骤的故障模拟的预定测试模式中确定最有可能满足第三步骤中的测试条件的测试模式；第五步骤，利用扫描寄存器替代与第二步骤中的与未检测出的故障有关的寄存器，并将该扫描寄存器连接为扫描链，从而组成改进的电路；以及第六步骤，在使用第四步骤中确定的用于改进电路的测试模式未检测出故障的时刻，通过切换到在第三步骤中确定的测试条件来进行故障模拟或测试。
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