[发明专利]新型类金刚石薄膜沉积工艺无效

专利信息
申请号: 03155986.7 申请日: 2003-08-29
公开(公告)号: CN1590584A 公开(公告)日: 2005-03-09
发明(设计)人: 赵跃 申请(专利权)人: 赵跃
主分类号: C23C16/27 分类号: C23C16/27;C23C16/50;C23C16/513
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518004广东省深圳市罗湖区莲塘*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种新型类金刚石薄膜沉积工艺,它利用CH4和H2以及Ar以3∶1∶1的比例送入混合室混合后再由出气口送入真空室内的离子源,其真空度为0.03Pa,其阴极与电池连接,基底与离子源相隔200mm,离子源的放电电流为100mA,引出电流20mA,沉积时间为15分钟,可以沉积薄膜于各种材料的基底,如果不使用CH4可改用CO2或CO等气体。
搜索关键词: 新型 金刚石 薄膜 沉积 工艺
【主权项】:
1.一种新型类金刚石薄膜沉积工艺,其特征是CH4和H2以及Ar以3∶1∶1的比例由流量计控制并分别送入混合进气室(1),经均匀混合后由出气口(2)送入装在真空室(3)内的离子源(4),真空室(3)的真空度为0.03Pa,其阴极(5)与电池E1连接,基底(7)与离子源(4)的距离是200mm,离子源的放电电流为100mA,引出电流20mA,沉积时真空室(3)抽成0.08~0.1Pa真空,这时沉积15分钟后基底(7)上有沉积薄膜(8)。
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