[发明专利]基因芯片电位扫描无标记荧光检测方法

摘要

本发明涉及一种基因芯片电位扫描无标记荧光检测方法，采用发卡形探针基因芯片，首先用标靶配制标准溶液，将标准溶液与探针杂交，并加入嵌入式荧光染料，对芯片基底施加电位和进行电位扫描，记录扫描下的探针与标准溶液杂交的荧光信号标准曲线；然后将待测样品DNA溶液装入荧光法测量芯片杂交的装置，与探针杂交，并加入嵌入式荧光染料；同样对芯片基底施加电位和进行电位扫描，记录扫描下的探针与待测样品杂交的荧光信号变化的曲线；将该曲线与标准曲线进行比较，给出识别结果。本发明可确切和可靠地实现SNP识别，探针和样品都无需进行特殊的标记，大大降低了成本。可广泛应用于生物芯片技术领域。

主权项

1、一种基因芯片电位扫描无标记荧光检测方法，采用发卡形探针基因芯片，其步骤包括：1)制作该基因芯片与标靶的电位扫描解链荧光标准曲线1-1)用已知是完全匹配的样品配制标准溶液；1-2)将标准溶液装入荧光法测量芯片杂交的装置，与探针杂交；1-3)在待测标准溶液中加入嵌入式荧光染料；1-4)对芯片基底施加电位和进行电位扫描；1-5)记录电位扫描下的探针与标准溶液杂交的荧光信号随表面电位变化的曲线，即为该芯片的电位扫描解链荧光标准曲线；2)制作该基因芯片与待测样品的电位扫描解链荧光曲线2-1)将与标准溶液浓度接近的待测样品DNA溶液装入荧光法测量芯片杂交的装置，与探针杂交，并在溶液中加入嵌入式荧光染料；2-2)以与获得标准曲线相同的扫描速度对芯片基底施加电位和进行电位扫描；2-3)记录电位扫描下的探针与待测样品杂交的荧光信号随表面电位变化的曲线，即待测样品的电位扫描解链荧光曲线；3)将待测样品曲线与标准曲线进行比较，给出识别结果3-1)计算待测样品曲线与标准曲线的的解链半高电位之差ΔE1/2值；3-2)当ΔE1/2＜0.2伏时，确认待测样品为标靶； 当ΔE1/2＞0.2伏时，确认待测样品为错靶。