[发明专利]四维参数检测基因芯片上核酸杂交对的方法及装置

摘要

本发明涉及一种四维参数检测基因芯片上核酸杂交对的方法及装置，该方法是在传统的核酸杂交对的三维参数检测基础上引入一温度参数，利用镶嵌在杂交对上的双股链上荧光标记物的荧光强度随温度的升高，双股链的逐渐熔解的荧光强度变化曲线来获得杂交对的解链温度，利用该解链温度与标准核酸杂交对的解链温度进行比较而得出样品核苷酸单链的特征；其装置由一个其中装有基因芯片的透明玻璃盒构成，其内部装有温度传感器和热循环器；本发明的方法检测基因的特异性强、灵敏度高，且操作简便；本发明的装置结构简单、适于与各种类型的基因芯片配合使用，其成本低。

主权项

1、一种四维参数检测基因芯片上核酸杂交对的方法，包括下述步骤：(1)将基因芯片置于一可调温装置内；(2)将样品多核苷酸靶序列单链和含双股镶嵌式荧光染料反应液一起流入容置有基因芯片的可调温装置内，将该调温装置内的温度降至退火温度Th，使样品多核苷酸靶序列单链与基因芯片上的探针杂交形成核酸双股链；并由镶嵌在双股链的荧光染料标记；(3)然后升高装置内的温度，其升温速度为0.001-1℃/秒，且每升高ΔT℃用扫描仪扫描一次基因芯片阵列的荧光强度F，直至100℃；当装置内温度升至核酸杂交双胶链的解链温度Tm时，双股链解链，荧光染料扩散到溶液中使荧光强度讯速下降至零；由扫描仪扫描基因芯片上的每个探针，连续检测荧光强度得到双股链的熔解曲线的拐折点或衍生的导数熔解曲线，由上述曲线的峰中心获得双股链的解链温度Tm；将该解链温度Tm与已知配对正确的杂交双股链的解链温度进行比较即可检测与基因芯片的探针的进行杂交的样品多核苷酸序列单链的特征。