[发明专利]同一源区半导体光放大器、电吸收调制器集成器件无效

专利信息
申请号: 02141026.7 申请日: 2002-07-11
公开(公告)号: CN1467889A 公开(公告)日: 2004-01-14
发明(设计)人: 邱伟彬;王圩 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/026 分类号: H01S5/026;H01L27/15
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种同一源区偏振不灵敏半导体光放大器、电吸收调制器集成器件,包括:一n型重掺杂磷化铟衬垫;一负电极,该负电极制作在衬垫的下方;一n型掺杂磷化铟缓冲层,该缓冲层制作在衬垫上;一无掺杂铟镓砷磷下限制层,该下限制层制作在缓冲层上;一无掺杂有源层,该有源层制作在下限制层上;一无掺杂铟镓砷磷上限制层,该上限制层制作在有源层上;一p型掺杂磷化铟盖层,该盖层制作在上限制层上;一电吸收调制器部分,该调制器部分制作在盖层上的一侧;一半导体放大器部分,该半导体放大器部分制作在盖层上的另一侧;在电吸收调制器部分与半导体放大器部分之间有一隔离沟,该隔离沟是50μm;在上述结构的两侧制作有二氧化硅/二氧化钛增透膜。
搜索关键词: 同一 半导体 放大器 吸收 调制器 集成 器件
【主权项】:
1、一种同一源区偏振不灵敏半导体光放大器、电吸收调制器集成器件,其特征在于,该器件包括:一n型重掺杂磷化铟衬垫;一负电极,该负电极制作在衬垫的下方一n型掺杂磷化铟缓冲层,该缓冲层制作在衬垫上;一无掺杂铟镓砷磷下限制层,该下限制层制作在缓冲层上;一无掺杂有源层,该有源层制作在下限制层上;一无掺杂铟镓砷磷上限制层,该上限制层制作在有源层上;一p型掺杂磷化铟盖层,该盖层制作在上限制层上;一电吸收调制器部分,该调制器部分制作在盖层上的一侧;一半导体放大器部分,该半导体放大器部分制作在盖层上的另一侧;在电吸收调制器部分与半导体放大器部分之间有一隔离沟,该隔离沟是50μm;在上述结构的两侧制作有二氧化硅/二氧化钛增透膜。
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