[发明专利]薄膜形成方法、具有薄膜的物品、光学膜、介电体覆盖电极及等离子体放电处理装置有效

专利信息
申请号: 01804728.9 申请日: 2001-12-06
公开(公告)号: CN1398305A 公开(公告)日: 2003-02-19
发明(设计)人: 福田和浩;近藤庆和;村上隆;岩丸俊一;村松由海;辻稔夫 申请(专利权)人: 柯尼卡株式会社
主分类号: C23C16/505 分类号: C23C16/505;G02B1/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种薄膜形成方法,其特征在于通过在大气压或大气压附近的压力下,在对置的两种电极之间,以超过10kHz的高频电压供给1W/cm2以上的电力而放电,使反应性气体成为等离子态,通过在上述等离子态的反应性气体中暴露衬底,在上述衬底上形成薄膜。
搜索关键词: 薄膜 形成 方法 具有 物品 光学 介电体 覆盖 电极 等离子体 放电 处理 装置
【主权项】:
1.一种薄膜形成方法,其特征在于:通过在大气压或大气压附近的压力下,在对置的两种电极之间,以超过10kHz的高频电压供给1W/cm2以上的电力而放电,使反应性气体成为等离子态,通过在上述等离子态的反应性气体中暴露衬底,在上述衬底上形成薄膜。
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