[发明专利]隐藏带测试模式的图像传感器中的缺陷像素的方法和设备有效
| 申请号： | 01142403.6 | 申请日： | 2001-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN1356820A | 公开（公告）日： | 2002-07-03 |
| 发明（设计）人： | 金显殷 | 申请（专利权）人： | 金显殷;海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | H04N1/028 | 分类号： | H04N1/028;H04N5/225 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹,邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种隐藏具有测试模式的图像传感器中的有缺陷像素的方法和设备。根据本发明的图像传感设备,包括传感模块,用于从一物体获取一图像,其中传感模块包括多个像素及一个用于检测像素缺陷的光源,该光源根据测试模式控制其关断;控制装置,用于决定是否存在从使用光源的传感模块接收的图像帧中的任何缺陷像素,并用于存储关于缺陷像素的位置;以及图像隐藏单元,将检测到的缺陷像素的位置与所述物体的图像帧的位置相比较,并且隐藏所检测到的缺陷像素。 | ||
| 搜索关键词： | 隐藏 测试 模式 图像传感器 中的 缺陷 像素 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种图像传感设备，包括：传感模块，用于从一物体获取一图像，其中传感模块包括多个像素及一个用于检测像素缺陷的光源，根据测试模式控制该光源的关断；控制装置，用于决定是否存在从使用光源的传感模块接收的图像帧中的任何缺陷像素，并用于存储关于缺陷像素的位置；以及图像隐藏装置，将检测到的缺陷像素的位置与所述物体的图像帧的位置相比较，并且隐藏所检测到的缺陷像素。
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