[发明专利]隐藏带测试模式的图像传感器中的缺陷像素的方法和设备

说明书

                          技术领域

本发明涉及一种隐藏具有测试模式的图像传感器中的有缺陷像素的方法和设备。

                          背景技术

通常，图像传感器是一种包含CCD或CMOS的半导体装置，并且是一种用于输入视觉信息的非常重要的装置。该图像传感器能被用于摄录机，数码相机，扫描仪及其他图像再现系统。

所述图像信息能被描述为光信息，并且能通过其发光度和颜色区别图像信息。图像传感器是一种把信息转换为电信号的装置，更具体地，它把模拟电信号转换为数字信号来完成数字化图像处理。

所以说，图像传感器具有在二维结构中的多个像素，并且每一像素依照其亮度将其光转换为电信号。通过测量其电信号，能够定义每一像素的光量并且像素单元的图像能通过该定义值而形成。

在这种情况，每一像素的操作类似于太阳能电池的操作。即，光越亮，聚积的电荷越多，并且光强通过测量固定时间内积累的电荷来定义。

图1是一个实际物体和传感器中的图像的示意图，有实际物体101，传感器芯片102，像素区域103及传感器的像素区域中的实际物体的图像104。

关于这一点，图中像素区域中像素越多，就越能更好的表示该实际物体。

图像传感器能够定义为两种类型，一种是黑白的，另一种是彩色的。在彩色图像传感器的情况中，RGB(红，绿，蓝)彩色滤光器用于每一个像素上，并响应相应的颜色。在设置彩色滤光器的几种方法中，有代表性的一种称为“拜耳(Bayer)格式”。

[表1]

    R1    G1    R2    G2    R3    G3    G4    B1    G5    B2    G6    B3    R4    G7    R5    G8    R6    G9    G    B    G    B    G    B