[发明专利]隐藏带测试模式的图像传感器中的缺陷像素的方法和设备

权利要求书

1.一种图像传感设备，包括：

传感模块，用于从一物体获取一图像，其中传感模块包括多个像素及一个用于检测像素缺陷的光源，根据测试模式控制该光源的关断；

控制装置，用于决定是否存在从使用光源的传感模块接收的图像帧中的任何缺陷像素，并用于存储关于缺陷像素的位置；以及

图像隐藏装置，将检测到的缺陷像素的位置与所述物体的图像帧的位置相比较，并且隐藏所检测到的缺陷像素。

2.如权利要求1所述的设备，其中所述像素中的光源是用来从所述物体中获得一附带的光通路。

3.如权利要求1所述的设备，其中所述光源的亮度与没有产生图像的物体的实际图像相同，其对所述光源导致的检测图像有影响。

4.如权利要求1所述的设备，其中所述控制装置包括：图像帧存储装置，用于存储一从传感模块接收的图像帧；

缺陷像素检测装置，用于存储及执行一程序来检测所存储的图像帧中的缺陷像素，其中所述程序以基本逐帧地在一帧上执行；

临时存储装置，用于存储所述缺陷像素的位置；以及

图像控制装置，用于控制所述图像帧存储装置，缺陷像素检测装置，临时存储装置，传感模块及图像隐藏装置。

5.如权利要求4所述的设备，其中所述图像隐藏装置包括：

第一插补处理装置，用于执行正常像素的插补处理；

第二插补处理装置，用于执行缺陷像素的插补处理；

位置检测装置，用于管理当前像素的位置；

记录装置，用于把缺陷像素的位置从临时存储器中读出并且记录缺陷像素的位置；

比较装置，用于比较当前像素位置及缺陷像素位置；

DPC处理装置，用于响应来自比较装置的结果以隐藏图像；

选择装置，用于响应来自DPC处理装置的结果选择第一插补处理装置和第二插补处理装置的输出。

6.一种图像传感器中缺陷像素的隐藏方法，包括下列步骤：

a)搜索白色像素，并且为测试模式临时存储所述白色像素的位置；

b)搜索黑色像素，并且临时存储所述黑色像素的位置；

c)存储作为缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且为测试模式接收来自物体的图像；

d)把与来自物体的图像相关的像素的位置与缺陷像素的位置比较，并且通过插补为缺陷像素合成一图像。

7.如权利要求6所述的方法，其中步骤a)包括下列步骤：

a1)通过关闭光源设置测试模式来检测所述白色像素；

a2)存储在所述测试模式下输入的图像帧；以及

a3)将图像帧的每一所选择的像素与所述图像帧中的所有像素的平均值进行比较或者将所述图像帧的每一像素与其它相邻像素进行比较，并且如果所述像素的亮度高于预定值则把为白色像素的所选择像素的位置存储。

8.如权利要求6所述的方法，其中步骤b)包括下列步骤：

b1)通过开启光源设置测试模式来检测所述黑色像素；

b2)存储在所述测试模式下输入的图像帧；

b3)关闭所述光源；以及

b4)将图像帧的每一所选择的像素与所述图像帧中的所有像素的平均值进行比较或者将所述图像帧的每一像素与其它相邻像素进行比较，并且如果所述被比较的像素的亮度低于预定值，则把为黑色像素的所选择像素的位置存储。

9.如权利要求7所述的方法，其中步骤a3)包括步骤：将每一像素与8个临近像素或2个临近像素的平均值或者临近像素中的一个进行比较。

10.如权利要求8所述的方法，其中步骤b4)还包括步骤：将每一像素与8个临近像素或2个临近像素的平均值或者临近像素中的一个进行比较。

11.一种图像传感器中缺陷像素的隐藏方法，包括下列步骤：

a)存储在白色像素测试模式下产生的一第一图像帧；

b)存储在黑色像素测试模式下产生的一第二图像帧；

c)决定在第一和第二帧中是否存在任何黑色和白色像素，如果存在任何黑色和白色像素则把这些黑色和白色像素的位置临时存储，把所述黑色和白色像素的位置作为缺陷像素位置记录，并接收来自物体的图像；以及

d)把与来自物体的图像相关的像素的位置与缺陷像素的位置进行比较并且通过插补为缺陷像素合成一图像。