[发明专利]用于半导体测试系统的模式发生器在审
| 申请号： | 01118987.8 | 申请日： | 2001-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN1336553A | 公开（公告）日： | 2002-02-20 |
| 发明（设计）人： | 松井鹤人 | 申请（专利权）人： | 株式会社鼎新 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;G11C29/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种通过产生和应用测试模式来测试半导体存储器件的半导体测试系统模式发生器。该模式发生器能够随意地产生变换请求信号,以便变换被测存储器件的特定存储单元的读/写数据,所述被测存储器件的X(行)和Y(列)方向具有不同的存储单元数。特定存储单元的位置处于被测存储器件中存储单元阵列的对角线上,或与所述对角线垂直的反向对角线上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 测试 系统 模式 发生器 | ||
【主权项】：
1、一种半导体测试系统中的模式发生器，用于产生测试半导体存储器件的测试模式，包括：一个变换请求信号电路，该电路用于为被测存储器件的每个特定存储单元产生一个变换请求信号，以便变换写数据；其中特定存储单元的位置处于半导体存储器件中存储单元阵列的对角线上，其中行(X)和列(Y)中的存储单元数彼此不同。
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