[发明专利]基于事件的半导体测试系统无效
| 申请号： | 01110010.9 | 申请日： | 2001-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN1376931A | 公开（公告）日： | 2002-10-30 |
| 发明（设计）人： | 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特;菅森茂;罗斯特·赖什曼;矢元裕明 | 申请（专利权）人： | 株式会社鼎新 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测试被测试电子装置(DUT)的基于事件的测试系统,该系统包括事件存储器,用来存储由基准时钟周期的整数倍数和分数倍数形成的每个事件的定时数据,其中,该定时数据表示一个当前事件和一个基准点之间的时间差;地址序列器,用来产生访问该事件存储器用的地址数据;用来产生一个事件启动信号的定时计数逻辑电路;事件产生单元,用于基于该事件启动信号和表示该基准时钟周期的分数倍数的数据来产生每个事件;和一主机。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 事件 半导体 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于事件的测试系统，用于通过向被测试电子装置(DUT)提供一测试信号，并在一选通信号的定时处评价该DUT的输出来测试DUT，该系统包括：一个事件存储器，用来存储由一个基准时钟周期的整数倍数(整数部分数据)和该基准时钟周期的分数倍数(分数部分数据)形成的每个事件的定时数据，所述定时数据是一个当前事件和一个预先设定的基准点之间的时间差；一个地址序列器，用来产生用于访问所述事件存储器以从中读出所述定时数据的地址数据；一个定时计数逻辑电路，用来产生一被延迟的事件启动信号，所延迟的时间为该整数部分数据与该基准时钟周期相乘而得的时间；一个事件产生单元，其根据用于确定所述测试信号或选通信号的来自所述定时计数逻辑电路的事件启动信号和来自所述事件存储器的该分数部分数据来产生每个事件；和一个主机，用于通过一测试程序来控制所述基于事件的测试系统的整个操作。
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