[发明专利]具有存储单元、逻辑区域和填充结构的半导体存储元件无效
申请号: | 00808593.5 | 申请日: | 2000-06-06 |
公开(公告)号: | CN1367936A | 公开(公告)日: | 2002-09-04 |
发明(设计)人: | G·欣德勒;C·德姆 | 申请(专利权)人: | 因芬尼昂技术股份公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张志醒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了随机访问的半导体存储元件,它还具有这样的结构,结构分成存储单元(1)和逻辑区域(2),并且具有下氧化层(4),安排在硅基底(3)上,和上氧化层(5),安排在下氧化层上,每个存储单元(1)在结区域包括至少一个晶体管(6),其中结区域在硅基底(3)与下氧化层(4)之间,并且在结区域包括电容器(10),其中结区域在下氧化层(4)与上氧化层(5)之间,电容器通过下氧化层(4)中的接触孔(12)连接到晶体管(6)上,接触孔(12)内填充有金属,并且每个存储单元(1)包括铁电材料(12),安排在两个电极(11、13)之间,连接到晶体管(6)上并且临近下氧化层(4)的电极(11)具有相对大的厚度,并且每个逻辑区域(2)在结区域包括至少一个晶体管(15),其中结区域在硅基底(3)与下氧化层(4)之间,晶体管通过下氧化层(4)和上氧化层(5)中的接触孔(19),连接到上氧化层(5)顶部的电极上,接触孔内填充有金属。根据本发明,在存储单元(1)的电容器(10)与逻辑区域(2)的接触孔(19)之间,存储单元(1)与逻辑区域(2)的拓扑学布局之间的水平度补偿由填充结构(22、23)建立。 | ||
搜索关键词: | 具有 存储 单元 逻辑 区域 填充 结构 半导体 元件 | ||
【主权项】:
1.半导体存储元件,具有存储单元、逻辑区域和随机访问的填充结构,它还具有这样的结构,该结构分成存储单元(1)和逻辑区域(2),并且具有安排在硅基底(3)上的下氧化层(4),和安排在下氧化层上的上氧化层(5),每个存储单元(1)在硅基底(3)与下氧化层(4)之间的结区域包括至少一个晶体管(6),并且在下氧化层(4)与上氧化层(5)之间的结区域至少包括电容器(10),电容器通过下氧化层(4)中的接触孔(12)连接到晶体管(6)上,接触孔(12)内填充有导电材料,并且包括安排在两个电极(11、13)之间的铁电材料(12),连接到晶体管(6)上并且临近下氧化层(4)的电极(11)具有相对大的厚度,并且每个逻辑区域(2)在硅基底(3)与下氧化层(4)之间的结区域包括至少一个晶体管(15),其中晶体管通过下氧化层(4)和上氧化层(5)中的接触孔(19),连接到上氧化层(5)顶部的电极上,接触孔(19)内填充有导电材料,其特征在于,在存储单元(1)的电容器(10)与逻辑区域(2)的接触孔(19)之间的元件中,存储单元(1)的拓扑学布局与逻辑区域(2)的拓扑学布局之间的水平度补偿由填充结构(22、23)建立。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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