[发明专利]为比较物体尺寸使这些物体位移的装置及用该装置比较尺寸的方法有效
申请号: | 00802559.2 | 申请日: | 2000-11-02 |
公开(公告)号: | CN1335927A | 公开(公告)日: | 2002-02-13 |
发明(设计)人: | K·蒂施勒 | 申请(专利权)人: | 布朗和沙普·特萨有限公司 |
主分类号: | G01B3/32 | 分类号: | G01B3/32;G01B5/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王勇,王忠忠 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及为了通过一个测量仪器(4)比较测厚规(2,3)的尺寸,而使这些测厚规位移的装置(1),所述位移装置(1)包括-.一个支架,即测量台(5),它确定了参考测厚规(2)及待检验的测厚规(3)的支承及滑动面(P),-.一个部件(6),即移动模板,一方面,它位于测量台(5)的上面及带有限位框(61A,62A),后者用于与测厚规的侧面(2L,3L)协同作用及将测厚规保持在相对测量仪器(4)确定的位置及方向上,并保护它们自由地支承在测量台(5)上,及被一个沿平行于支承面(P)的至少一个轴(A1,A2,A3)导向的装置(7)带动,该装置的特征在于该移动模板(6)由至少两个不同的部分(61,62)组成,这两部分能彼此分开地移动。 | ||
搜索关键词: | 比较 物体 尺寸 这些 位移 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.为了通过一个测量仪器(4)比较至少两个物体(2,3)即参考测厚规及待检验的测厚规的尺寸,而使这些测厚规位移的装置(1),所述位移装置(1)包括:-一个支架,即测量台(5),它确定了参考测厚规(2)及待检验的测厚规(3)共用的支承及滑动面(P),及确定了它们涉及测量的面(2A,2B,3A,3B)中的一个面(2A,3A),-一个部件(6),即移动模板,一方面,它位于测量台(5)的上面及带有限位框(61A,62A),后者用于与测厚规的侧面(2L,3L)协同作用及将测厚规保持在相对测量仪器(4)确定的位置及方向上,并保护它们自由地支承在测量台(5)上,及另一方面,它可在该测量台(5)上移动,该装置的特征在于:该移动模板(6)由至少两个不同的部分(61,62)组成,这两部分能彼此分开地移动,其中:-第一部分(61),它包括限位框(61A),用于在测量台(5)上在侧向保持参考测厚规(2),及-至少另一部分,即第二部分(62),它包括用于在侧向保持至少一个待检验的测厚规(3)的限位框(62A)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于布朗和沙普·特萨有限公司,未经布朗和沙普·特萨有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00802559.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。