[发明专利]具有基准电位的集成存储器与这种存储器的运行方法无效

专利信息
申请号: 00117633.1 申请日: 2000-05-18
公开(公告)号: CN1274160A 公开(公告)日: 2000-11-22
发明(设计)人: T·施拉格尔;Z·曼约基;R·埃斯特尔 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: G11C11/22 分类号: G11C11/22;H01L27/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,张志醒
地址: 联邦德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 存储器具有控制单元(C1),此控制单元为了生成两个位线(BL1,/BL1)上的共同基准电位(VREF)首先导电地接通两个基准存储单元(RC)的第一开关元件(S1)和选择晶体管(T),并且此控制单元在某个时间间隔(Δt)之后,阻断选择晶体管,而第一开关元件继续导电和平衡两个位线之间的电位差值(2U1)。
搜索关键词: 具有 基准 电位 集成 存储器 这种 运行 方法
【主权项】:
1.集成存储器-具有沿两个位线(BL1,/BL1)排列的存储单元(MC),-具有带有各一个选择晶体管(T)的两个基准存储单元(RC),这些基准存储单元是各自经此选择晶体管与位线(BL1,/BL1)之一连接的,-具有一个第一开关元件(S1),经此开关元件位线(BL1,/BL1)互相连接,-具有用于在第一基准存储单位(RC)中存储一个第一状态的,和在第二基准存储单元(RC)中存储一个第二状态的一个写入单元(SA),-具有一个控制单元(C1),此控制单元为了生成在两个位线(BL1,/BL1)上的一个共同的基准电位(VREF),首先导电地接通两个基准存储单元(RC)的第一开关元件(S1)和选择晶体管(T),并且此控制单元在某个时间间隔(Δt)之后阻断选择晶体管,而第一开关元件继续导电和平衡两个位线之间的电位差(2U1)。
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