[发明专利]具有元件分离绝缘膜的半导体装置的制造方法无效
申请号: | 00109099.2 | 申请日: | 2000-06-07 |
公开(公告)号: | CN1165987C | 公开(公告)日: | 2004-09-08 |
发明(设计)人: | 清水正邦 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L21/336;H01L27/088;H01L29/78 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种元件分离绝缘膜的半导体装置的制造方法是在具有形成了多个元件分离氧化膜101和其间的活性区域上的薄氧化膜201的元件区域501和502的半导体基板100表面整个面上形成耐氧化性膜301,元件区域501露出的阻膜401作为掩膜让半导体基板100露出后,形成第1栅极氧化膜,再以元件区域502开口的阻膜为掩膜让半导体基板100露出,形成第2栅极氧化膜。该方法能防止基板上形成不必要的氧化膜、可减低栅极氧化前的蚀刻。 | ||
搜索关键词: | 具有 元件 分离 绝缘 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有元件分离绝缘膜的半导体装置的制造方法,其特征是包括由多个元件分离绝缘膜将半导体基板区分为多个元件区域,在所述元件区域形成氧化膜,在半导体基板表面的整个面上形成耐氧化性膜的工序;以使第1元件区域露出的第1阻膜为掩膜,将所述氧化膜以及所述耐氧化性膜蚀刻去除的工序;在所述半导体基板上形成第1栅极氧化膜的工序;以使第2元件区域露出的第2阻膜为掩膜,将所述氧化膜以及所述耐氧化性膜蚀刻去除的工序;在所述半导体基板上形成第2栅极氧化膜的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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