[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 00106890.3 申请日: 2000-03-07
公开(公告)号: CN1161834C 公开(公告)日: 2004-08-11
发明(设计)人: 土津田义久;左座靖之;玉置和雄 申请(专利权)人: 夏普公司
主分类号: H01L21/58 分类号: H01L21/58;H01L21/60;H01L25/065
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张志醒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 用各向异性导电粘接剂把第一半导体芯片安装到电路衬底上时,使它的一部分伸出第一半导体芯片外。第二半导体芯片安装在第一半导体芯片和用伸出树脂构成的支承部分上。用支承部分从下面支承第二半导体芯片的伸出部分。于是,为了达到高密度,在有多个叠置的半导体芯片的半导体器件中,当叠置于其上的半导体芯片的一部分从叠在电路衬底上的半导体芯片伸出时,可以在伸出部分形成的电极上更好地进行引线键合工艺。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体器件的制造方法,包括以下步骤:a)给电路衬底(3)加粘接剂(20、23),通过粘接剂(20、23)用倒装接合法将第一半导体芯片(1)连接到电路衬底(3)上;b)第二半导体芯片(2)有一个从第一半导体芯片(1)伸出的伸出部分,其背面与第一半导体芯片(1)背面相贴着,第二半导体芯片(2)通过利用其伸出部分的引线键合与电路衬底(3)连接;和c)用粘接剂(20、23)的一部分形成用于支承伸出部分的支承部分(21,24)。
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