“M·R·斯皮卡”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果8个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]用于控制器结构测试的系统、装置和方法-CN202211137621.5在审
发明人： M·R·斯皮卡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-05 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06F11/277 文献下载
摘要：本申请涉及用于控制器结构测试的系统、装置和方法。一种系统包括安装到印刷电路板PCB的存储器子系统控制器和电路内测试ICT装置。所述存储器子系统控制器在所述PCB上具有包括刺激点和观察点的测试点。所述ICT装置连接到所述控制器的所述测试点。所述ICT装置将自动测试模式生成ATPG输入测试向量转换为测试信号。所述ICT装置的第一引脚驱动器组将所述测试信号施加到所述控制器的所述刺激点，并且所述ICT装置的第二引脚驱动器组读取在所述控制器的所述观察点处输出的输出信号。所述ICT装置的比较器将所述输出信号与输出测试向量进行比较。所述比较器提供包括所述比较的结果的测试结果数据。
用于控制器结构测试系统装置方法

[发明专利]用于控制器结构测试的系统、装置和方法-CN201980081770.4有效
发明人： M·R·斯皮卡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-05 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G06F11/277 文献下载
摘要：一种系统包括安装到印刷电路板PCB的存储器子系统控制器和电路内测试ICT装置。所述存储器子系统控制器在所述PCB上具有包括刺激点和观察点的测试点。所述ICT装置连接到所述控制器的所述测试点。所述ICT装置将自动测试模式生成ATPG输入测试向量转换为测试信号。所述ICT装置的第一引脚驱动器组将所述测试信号施加到所述控制器的所述刺激点，并且所述ICT装置的第二引脚驱动器组读取在所述控制器的所述观察点处输出的输出信号。所述ICT装置的比较器将所述输出信号与输出测试向量进行比较。所述比较器提供包括所述比较的结果的测试结果数据。
用于控制器结构测试系统装置方法

[发明专利]控制器可接入的测试接入端口控件-CN202110219469.4有效
发明人： M·R·斯皮卡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本申请案涉及控制器可接入的测试接入端口控件。经由通用异步收发器UART接收边界扫描测试数据和用以启动边界扫描测试的命令。基于接收到所述命令，在存储器子系统控制器处启动边界扫描测试模式。基于所述边界扫描测试数据的边界扫描测试向量同步流式传输到边界扫描链。由所述扫描链输出的测试结果数据经由所述UART提供到UART主机。
控制器接入测试端口控件

[发明专利]存储器子系统控制器及相关方法和存储媒体-CN202110219279.2有效
发明人： M·R·斯皮卡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G06F13/16 文献下载
摘要：本申请案涉及用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径。接收命令执行数据。所述命令执行数据包括对应于功能组件的块地址、对应于所述功能组件的可测试性设计DFT寄存器的寄存器识别符，和命令数据。将所述命令执行数据转换为串行命令。将所述串行命令提交到所述功能组件的所述DFT寄存器。接收对所述串行命令的响应。所述响应是由所述功能组件基于所述串行命令产生。将所述响应转换为命令响应数据，且提供到测试子系统。
存储器子系统控制器相关方法存储媒体

[发明专利]用于促进多种测试模式的测试访问端口架构-CN202080019593.X在审
发明人： M·R·斯皮卡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-02-05 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G06F11/263 文献下载
摘要：一种系统包括测试模式寄存器、一组引脚和测试访问端口控制器。所述测试访问端口控制器通过根据第一引脚协议配置所述一组引脚来启动第一测试模式。所述测试访问端口控制器将第一引脚配置成接收基于第一协定的第一测试模式数据，并且将第二引脚配置成输出基于所述第一测试模式数据的第一测试结果数据。基于检测到存储在所述测试模式寄存器中的寄存器命令，所述测试访问端口控制器通过根据第二引脚协议配置所述一组引脚来启动第二测试模式。所述测试访问端口控制器将所述第一引脚配置成接收基于第二协定生成的第二测试模式数据，并且将所述第二引脚配置成输出基于所述第二测试模式数据的第二测试结果数据。
用于促进多种测试模式访问端口架构

[发明专利]用于存储器子系统电压调节的电源管理组件-CN201980090917.6在审
发明人： M·R·斯皮卡;P·T·卡拉赫尔 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-12 - 公布日： 2021-09-10 - 主分类号： G11C5/14 文献下载
摘要：一种存储器子系统包括电源管理组件，所述电源管理组件包括经配置以为所述存储器子系统的组件供应相应操作电压的多个调节器。所述电源管理组件经配置以调整提供到特定组件的调节器电压电平直到检测到所述特定组件的操作状态变化。所述电源管理电压电平进一步经配置以确定检测到所述特定组件的所述操作状态变化时所述调节器电压电平的值。
用于存储器子系统电压调节电源管理组件

[发明专利]用于存储器子系统控制器的数据记录子系统-CN202110219889.2在审
发明人： M·R·斯皮卡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本申请涉及一种用于存储器子系统控制器的数据记录子系统。通过存储器子系统处的处理装置监视包括所述存储器子系统与主机系统之间传送的数据分组的数据流量。根据分组类型对数据分组进行分类。生成包括与每个分组类型相关联的频率和时延信息的日志数据。将所述日志数据存储在所述存储器子系统的存储器组件中。
用于存储器子系统控制器数据记录

[发明专利]智能存储器装置测试架-CN202011510696.4在审
发明人： G·D·哈默;M·R·斯皮卡;D·谢泼德;P·卡拉赫尔;J·达罗查沙维斯 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请涉及一种智能存储器装置测试架。一种测试架包含两个或更多个存储器装置测试板，其中每个存储器装置测试板包含两个或更多个存储器装置测试资源。所述两个或更多个存储器装置测试板中的每一个包含被分配给对应存储器装置测试板的所述存储器装置测试资源的单独处理装置。测试板的处理装置检测第一存储器子系统已与所述对应存储器装置测试板的第一存储器装置测试资源接合。所述处理装置识别将针对所述第一存储器子系统的第一存储器装置执行的第一测试，其中所述第一测试包含要在执行所述第一测试时执行的一或多个第一测试指令。所述处理装置使所述一或多个第一测试指令传输到所述第一存储器子系统，其中所述第一测试通过在所述第一存储器子系统处执行所述一或多个第一测试指令来执行。
智能存储器装置测试