[发明专利]用于控制器结构测试的系统、装置和方法在审
| 申请号： | 202211137621.5 | 申请日： | 2019-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN115543722A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | M·R·斯皮卡 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G06F11/277 | 分类号： | G06F11/277 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及用于控制器结构测试的系统、装置和方法。一种系统包括安装到印刷电路板PCB的存储器子系统控制器和电路内测试ICT装置。所述存储器子系统控制器在所述PCB上具有包括刺激点和观察点的测试点。所述ICT装置连接到所述控制器的所述测试点。所述ICT装置将自动测试模式生成ATPG输入测试向量转换为测试信号。所述ICT装置的第一引脚驱动器组将所述测试信号施加到所述控制器的所述刺激点，并且所述ICT装置的第二引脚驱动器组读取在所述控制器的所述观察点处输出的输出信号。所述ICT装置的比较器将所述输出信号与输出测试向量进行比较。所述比较器提供包括所述比较的结果的测试结果数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 控制器 结构 测试 系统 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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