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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]成像系统和其关联的方法-CN201180051836.9无效
发明人： K·G·哈丁;R·J·费尔金斯;G·阿布拉莫维奇 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2011-08-26 - 公布日： 2013-06-19 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明提供用于生成样品的图像的成像系统和方法，其中该系统包括用于照亮该样品的照明源；用于观察从该样品形成的图像的图像观察子系统；一个或多个可调光波板和一个或多个双折射元件，其安置在该样品和该图像观察子系统之间，使得来自该样品的图像在到达该图像观察子系统之前通过这些可调光波板和这些双折射元件；改变这些可调光波板的一个或多个相位延迟状态而导致图像的一个或多个偏振状态改变的装置；以及修改该装置来改变这些可调光波板的相位延迟状态的控制器。
成像系统关联方法

[发明专利]用于在线蠕变监测的方法和系统-CN201110460386.0无效
发明人： E·J·尼特斯;J·A·鲁德;K·G·哈丁;W·C·哈什;E·A·安达拉维斯;T·J·巴青格;N·V·尼尔马兰;P·辛赫;王光华 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2011-12-23 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明涉及用于在线蠕变监测的方法和系统。提供一种蠕变监测系统(100)。该系统包括：蠕变传感器组件(116)，形成到围绕轴线能旋转的对象(114)的表面上，蠕变传感器组件包括像图(300)；具有到蠕变传感器组件的视线的光学监测系统，光学监测系统配置成从蠕变传感器组件来收集信息；处理器(110)，编程为接收信息，并且确定对象的蠕变量(124)的至少一个。
用于在线监测方法系统

[发明专利]用于在风力涡轮机转子叶片上进行外部检查的系统和方法-CN201110436196.5无效
发明人： P·J·弗里茨;K·G·哈丁;B·G·穆尔 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2011-12-16 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开一种用于在风力涡轮机的转子叶片上进行外部检查的系统和方法。该系统一般可以包括构造成至少部分地围绕转子叶片的外周边延伸的框架和与框架连接的感测装置。另外，第一间隔臂和第二间隔臂可以从框架延伸。第一间隔臂可以构造成与转子叶片的压力侧表面接触。第二间隔臂可以构造成与转子叶片的吸力侧表面接触。
用于风力涡轮机转子叶片进行外部检查系统方法

[发明专利]用于刻划多层面板的方法和系统-CN201110309925.0在审
发明人：张文武;K·G·哈丁;M·G·琼斯;J·A·德卢卡;J·M·弗里 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2011-09-28 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明名称为“用于刻划多层面板的方法和系统”。本发明提供一种刻划多层面板的方法。该方法包括(a)提供包括衬底层、布置在其上的透明传导层、布置在透明传导层上的第一半导体层的多层面板；(b)相对于激光加工装置来配置多层面板，加工装置包括激光头和光传感器；(c)引导激光头相对于多层面板的运动，使得激光束沿跨面板的横越线而接触面板，入射在面板上的激光束具有烧蚀激光束照射的区域内多层面板的一个或多个层的足够能量以提供刻划的面板；(d)同时用第一光源来照射刻划的面板；以及(e)在光传感器实时地检测从刻划的面板显现的光。还提供了一种用于刻划多层面板的系统。
用于刻划多层面板方法系统

[发明专利]适于相移分析的探头的条纹投射系统和方法-CN200910166922.9有效
发明人： C·A·本达尔;G·宋;L·陶;K·G·哈丁;T·卡彭 -专利权人：通用电气检查技术有限合伙人公司
申请日： 2009-07-17 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： G02B23/24 文献下载
摘要：适于相移分析的探头的条纹投射系统和方法。一种包括插入导管和安装在所述插入导管远端的多个光发射器的探头。探头还包括至少一个强度调节元件，从多个光发射器发出的光通过该元件以在一表面上投射多个条纹集。当多个光发射器中至少一个的一个发射器组发射光时，多个条纹集保留区的每个构成被投射的结构光图案。探头还包括用于获得表面的至少一幅图像的成像器和设置成对该至少一幅图像执行相移分析的处理单元。还提出一种使用探头在一表面上投射适于进行相移分析的多个条纹集的方法。
适于相移分析探头条纹投射系统方法

[发明专利]关于利用结构光的探头系统的系统方面-CN200910206533.4有效
发明人： C·A·本达尔;K·G·哈丁;T·卡彭;宋桂菊;陶立 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2009-10-10 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明名称为“关于利用结构光的探头系统的系统方面”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间，启用检查光源。在测量模式期间，禁用检查光源，并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中，结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。
关于利用结构探头系统方面

[发明专利]轮廓测定设备及操作方法-CN200710152668.8无效
发明人： Q·胡;M·N·阿泽;K·G·哈丁;J·B·小迪顿;S·K·特瓦里 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2007-07-20 - 公布日： 2009-01-21 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供了一种轮廓测定设备(12)。该轮廓测定设备(12)包括条纹投影装置(32)，其被配置用以将条纹图样投影到对象(22)上；以及光学单元(34)，其被配置用以捕获由对象(22)调制的失真条纹图样的图像。该轮廓测定设备(12)还包括信号处理单元(60)，其被配置用以处理来自光学单元(34)的所捕获图像，以便从图像中滤除噪声，并获得与对象(22)的制造或修理相关的参数的实时估计。
轮廓测定设备操作方法

[发明专利]提取刀具参数的系统和方法-CN200710087996.4无效
发明人： T·陈;K·G·哈丁;Z·李;J·郑;S·R·哈亚施;X·杜 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2007-02-16 - 公布日： 2008-08-20 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：提供一种用于提取刀具参数的方法。该方法包括获得具有与刀具表面相应的点云的测量数据集并且在预定截面上虚拟分割该点云以获得预定的截面上的点集。该方法还包括通过该点集生成多条曲线并且优化该多条曲线以生成优化的拟合曲线并且从该优化的拟合曲线中提取刀具的参数。此外，基于本旋转角度投影技术，可以提取刀具的多个参数。
提取刀具参数系统方法

[发明专利]光学边折测量仪-CN200610064202.8无效
发明人： K·G·哈丁;唐述国;C·A·坎特洛 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-11-15 - 公布日： 2007-09-05 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种投射装置，将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射，并数字化二维快照。这些光轴不平行，并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照，并分析它以便为表面建立数学模型，供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。
光学测量仪

[发明专利]特征化机器零件中边折的几何参数的计算机实现的系统-CN200610148527.4无效
发明人： K·G·哈丁;郑建明;李永青;贾明;宋桂菊;J·B·罗斯;R·G·伊萨克斯 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-11-15 - 公布日： 2007-05-23 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：提供一种计算机实现的方法、系统和计算机程序代码，用来特征化边折(14)，例如可引起边缘锐度的零件特征和/或几何参数，如在斜面、斜角、倒角和其它零件特征中可能遇到的。该方法能够精确地和一致地确定制造设置、例如，用于特征化边折的任何可应用的集合参数。
特征机器零件中边折几何参数计算机实现系统

[发明专利]用于检查物体的方法和设备-CN200610164125.3无效
发明人： K·G·哈丁 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-10-24 - 公布日： 2007-05-16 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种利用结构光测量系统(10)来检查物体(12)的方法(34)，该结构光测量系统包括光源(22)和成像传感器(24)。所述方法包括：从光源发射(36)光；在不同的偏振角处使从光源发射的多个不同波长中的每个波长的光偏振(38)；将从光源发射的光投射(40)到物体的表面上；利用成像传感器接收(42)从物体表面反射的光；以及分析(46)由成像传感器所接收的光以便于检查物体的至少一部分。
用于检查物体方法设备

[发明专利]用于检查物体的方法和设备-CN200610143649.4有效
发明人：胡庆英;K·G·哈丁;J·B·罗斯;D·W·哈米尔顿 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-10-24 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：一种用于生成与光测量系统(10)一起使用的光罩(50、52)的方法(72)，光测量系统(10)包括用于将光投射到物体(12)上的光源(22)，和用于接收从物体反射的光的成像传感器(24)。该方法包括确定(74)要检查的物体的轮廓(56)，并且基于所确定的物体轮廓生成(86)电子光罩。电子光罩具有电子开口(62、68)，电子开口(62、68)具有定义为从光源和成像传感器其中之一的视角来看基本上与所确定的物体轮廓匹配的轮廓(64、70)。
用于检查物体方法设备

[发明专利]用于生成掩模的方法和设备-CN200610163581.6有效
发明人： K·G·哈丁;X·钱;R·S·德穆思 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-10-24 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：一种用于产生用在光测量系统(10)中的掩模(52)的方法(100)，该光测量系统包括用于把光投射到物体(12)表面上的光源(22)，和用于接收从该物体表面反射回来的光的成像系统。该方法包括确定(102)待检查物体的轮廓，和基于所确定轮廓产生(104)掩模，其中该掩模包括在其内部延伸的开口(172)，从光源处看来该开口的轮廓与物体的轮廓基本匹配。
用于生成方法设备

[发明专利]检查物体的方法和设备-CN200610160509.8无效
发明人： K·G·哈丁 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-10-24 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种检查物体(12)的方法，包括：从光源(22)发射光(40)，将从光源发射的光投影到物体的表面，将从物体表面反射的光分离为第一图像和第二图像，利用成像传感器接收第一图像和第二图像，并且分析由成像传感器(24)接收的第一和第二图像，以便对物体的至少一部分进行检查。
检查物体方法设备

[发明专利]用于检验物体的方法和装置-CN200610163907.5无效
发明人：胡庆英;D·W·哈米尔顿;K·G·哈丁;J·B·洛斯 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2006-10-24 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。
用于检验物体方法装置

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