专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于混合V族前体工艺的方法和系统-CN202310383425.4在审
  • M·D·吉恩;R·佩尔策尔 - IQE公开有限公司
  • 2023-04-11 - 2023-10-17 - C30B25/14
  • 一种形成层210的方法1300,包括在反应器100、100’中引入III族前体112、212、512,在反应器中引入氢化物V族前体114、214、514,以及在反应器中引入金属有机V族前体116、216、516以形成层210。该方法可以进一步包括将氢化物V族前体和金属有机V族前体522混合。有利地,该层和形成该层的方法利用混合的V族前体,改善了均匀性,降低了最终材料的热敏性,使前体的浓度分布正规化,改善了产率,提高了制造效率,改善对III‑V比率(例如,压力、生长速率、通量)的控制,并降低了制造成本。
  • 用于混合族前体工艺方法系统
  • [实用新型]层状结构-CN202320174191.8有效
  • R·哈蒙德;A·克拉克;R·佩尔策尔 - IQE公开有限公司
  • 2023-01-31 - 2023-08-25 - H01L29/78
  • 公开了层状结构。一种层状结构,包括:基板;多孔层;以及外延半导体(沟道)层。多孔层在邻近基板处具有>30%的第一孔隙率并且在与半导体层相邻处具有≤25%的第二孔隙率。本实用新型的目的是提供一种层状结构。可以针对不同的功能优化两种不同的孔隙率。较高的孔隙率在使沟道与基板绝缘方面是有效的。较低的孔隙率提供了具有露出的单晶取向的晶体结构,其支持包括高质量、低缺陷、外延生长的沟道层。
  • 层状结构
  • [发明专利]层状结构-CN202310084026.8在审
  • R·哈蒙德;A·克拉克;R·佩尔策尔 - IQE公开有限公司
  • 2023-01-31 - 2023-08-01 - H01L29/06
  • 公开了层状结构。一种制造层状结构的方法,包括在基板上生长外延层,外延层在邻近基板处具有第一电阻率并且在远离基板处具有第二电阻率(小于第一电阻率)。使外延层孔化以形成多孔层,多孔层在邻近基板处具有30%的孔隙率并且在远离基板处具有≤25%的孔隙率。在多孔层上方外延生长半导体(沟道)层。另外一种层状结构,包括:基板;多孔层;以及外延半导体(沟道)层。多孔层在邻近基板处具有>30%的第一孔隙率并且在与半导体层相邻处具有≤25%的第二孔隙率。可以针对不同的功能优化两种不同的孔隙率。较高的孔隙率在使沟道与基板绝缘方面是有效的。较低的孔隙率提供了具有露出的单晶取向的晶体结构,其支持包括高质量、低缺陷、外延生长的沟道层。
  • 层状结构
  • [实用新型]层状结构-CN202222758013.8有效
  • M·D·吉恩 - IQE公开有限公司
  • 2022-10-19 - 2023-07-14 - H01S5/125
  • 本实用新型涉及层状结构。层状结构(200、300、300'、400、400'、600)包括作为单一材料的第一层(240、320、420、620)和耦合到第一层的空腔(230、330、430、630)。第一层包括多孔区域(250、250'、350、350'、460、650)以形成第一分布式布拉格反射器(DBR)。多孔区域包括单一材料的交替的第一多孔子层和第二多孔子层(251‑258、351‑358、351'‑358'、461‑468、651‑658)以形成第一DBR。空腔包括有源区(238、338、438、638)以生成辐射、检测辐射或两者。需要提高制造DBR的速度和效率。有利地,层状结构提高了制造DBR的速度,减少了层状结构中的应变,减小了层状结构的尺寸,并且增加了产量。
  • 层状结构
  • [发明专利]层状结构-CN202211354272.2在审
  • A·D·约翰逊;A·M·乔尔 - IQE公开有限公司
  • 2022-11-01 - 2023-05-05 - H01S5/183
  • 公开了层状结构。一种层状结构包括具有第一变形的基板;此外形成器件并具有第二变形的一个或多个器件层;相对于基板是赝晶的并且具有第三变形的变形控制层。变形控制层被选择以使得第一变形、第二变形和第三变形之和与目标变形水平相匹配。有利地,层状结构具有受控的、已知的变形,该变形可以是压缩的、拉伸的或零。
  • 层状结构
  • [发明专利]多孔分布式布拉格反射器装置、系统和方法-CN202211279655.8在审
  • M·D·吉恩 - IQE公开有限公司
  • 2022-10-19 - 2023-04-21 - H01S5/125
  • 公开了多孔分布式布拉格反射器装置、系统和方法。层状结构200、300、300'、400、400'、600包括作为单一材料的第一层240、320、420、620和耦合到第一层的空腔230、330、430、630。第一层包括多孔区域250、250'、350、350'、460、650以形成第一分布式布拉格反射器(DBR)。多孔区域包括单一材料的交替的第一多孔子层和第二多孔子层251‑258、351‑358、351'‑358'、461‑468、651‑658以形成第一DBR。空腔包括有源区238、338、438、638以生成辐射、检测辐射或两者。有利地,层状结构和形成层状结构的方法提高了制造DBR的速度,减少了层状结构中的应变,减小了层状结构的尺寸,并且增加了产量。
  • 多孔分布式布拉格反射装置系统方法
  • [实用新型]半导体装置-CN202222047703.2有效
  • A·D·约翰逊 - IQE公开有限公司
  • 2022-08-04 - 2023-03-21 - H01S5/183
  • 本公开涉及半导体装置。公开了一种半导体装置(100,200,300,400,500),包括:衬底(104);所述衬底(104)上的第一反射器(106);所述第一反射器(106)上的光发射层(107),其中,所述光发射层(107)包括活动区域(108A‑C),并且其中每个活动区域(108A‑C)包括彼此不同的主要发射波长;对应的活动区域(108A‑C)上的第二反射器(114A‑C);和对应的活动区域(108A‑C)上的孔(110A‑C)。
  • 半导体装置
  • [发明专利]cREO上方的外延层中的局部应变场-CN202110397728.2在审
  • A·克拉克;R·佩尔策尔;R·哈蒙德 - IQE公开有限公司
  • 2021-04-14 - 2021-10-22 - H01L41/047
  • 公开了cREO上方的外延层中的局部应变场。一种用于声波的传输的层状结构(100),该层状结构(100)包括:基板层(102);以及在基板层(102)上方的第二层(104),其中,第二层(104)包括彼此相邻的多个离散部分(105),多个离散部分(105)中的每个离散部分(105)包括第一子区域(104A)和第二子区域(104B);以及外延层(108),生长在第二层(104)上方,用于外延层(108)的主平面中的声波的传输,其中,要通过外延层(108)传输的声波的波长的周期(λ)近似等于第一子区域(104A)的宽度(dA)与第二子区域(104B)的宽度(dB)之和。
  • creo上方外延中的局部应变

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