专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]设备的制造-CN202080009135.8在审
  • R·L·卡拉赫;S·V·格罗尼恩;G·C·加德纳 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2020-01-04 - 2021-08-27 - H01L27/18
  • 一种制造设备的方法,其中设备包括多个材料段和至少一个连接两个或更多个材料段的结。在掩蔽阶段,掩模被形成在设备的底层上。掩模包括暴露底层的多个沟槽,每个沟槽对应于材料段中的一个材料段。两个或多个沟槽的相应部分在与至少一个结对应的位置处(a)变窄,或者(b)被间断隔开。在选择性区域生长阶段,材料在沟槽集中生长以在底层上形成材料段。两个或更多个材料段在至少一个结处被连接。
  • 设备制造
  • [发明专利]半导体制造-CN201980088591.3在审
  • R·L·卡拉赫;G·C·加德纳;S·V·格罗宁 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2019-12-31 - 2021-08-20 - H01L27/18
  • 半导体结构的原位图案化是使用一个或多个“阴影壁”(408)结合成角度(110)的沉积束而被执行的。阴影壁从衬底的表面向外突出以限定相邻的阴影区,在该阴影区中,由于阴影壁抑制成角度的沉积束的通过而阻止了沉积。因此,在阴影区内的半导体结构的表面部分上不会发生沉积。因此阴影壁可以被用于实现半导体结构的选择性图案化。阴影壁本身由半导体形成。在一种实现中,半导体结构和用于对半导体结构进行选择性图案化的一个或多个阴影壁可以通过使用选择性区域生长(SAG)而形成。
  • 半导体制造

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