专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]闪烁噪声降低的带隙参考电路-CN202180009309.5在审
  • E·伊瓦诺夫 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2021-01-06 - 2022-08-26 - G05F3/30
  • 本公开提供了带隙参考电路,该带隙参考电路为了降低输出参考电压的闪烁噪声而对电流镜电路具有多级斩波动作。带隙参考电路包括:第一电流镜,包括一对第一MOSFET和第二MOSFET;第二电流镜,包括第三MOSFET,该第三MOSFET电连接到第一电流镜并被配置为在漏极处提供参考电压;第一双极结型晶体管,电连接到第一电流镜;第二双极结型晶体管,经由第一电阻器连接到第一电流镜;以及第三双极结型晶体管,经由第二电阻器连接到第三MOSFET。该带隙参考电路还包括用于控制MOSFET的运算放大器、以及被配置为对第一电流镜和第二电流镜的输出执行斩波动作的多个斩波开关。
  • 闪烁噪声降低参考电路
  • [发明专利]用于放大器中斩波纹波抑制的装置和方法-CN201610190874.7有效
  • E·伊瓦诺夫 - 美国亚德诺半导体公司
  • 2016-03-30 - 2018-12-25 - H03F3/45
  • 本公开涉及用于放大器中斩波纹波抑制的装置和方法。本文提供用于数字辅助反馈偏移校正的装置和方法。在某些配置中,放大器包括:用于对输入信号提供放大的放大电路,和用于补偿所述放大器的输入失调电压的斩波电路。此外,该放大器进一步包括数字辅助反馈偏置校正电路,它包括斩波纹波检测电路、反馈路径斩波电路、数字校正控制电路以及偏移校正电路。斩波纹波检测电路基于检测所述放大器的输出纹波而产生检测的纹波信号。此外,该反馈路径斩波电路使用放大器的斩波时钟信号解调所检测的纹波信号。数字校正控制电路接收解调的纹波信号,其中数字校正控制电路用于控制输入偏移控制信号的值,其控制由偏移校正电路提供的输入偏移校正的量。
  • 用于放大器波纹抑制装置方法
  • [发明专利]用于自适应共模电平转换的设备和方法-CN201280044199.7有效
  • E·伊瓦诺夫 - 美国亚德诺半导体公司
  • 2012-07-26 - 2014-05-14 - H03F3/45
  • 提供了用于自适应共模电平转换的设备和方法。在一个实施例中,提供了自适应电平转换器(ALS)(20)中的电平转换的方法。本技术包括将第一电容器(1a)和第二电容器(1b)的每一个充电至大约等于差分输入电压信号的共模电压与基准电压(VREF)之差的电压。本技术可进一步包括在ALS的第一输入(VINP)和第一输出(VOUTP)之间插入第一电容器以及在ALS的第二输入(VINN)和第二输出(VOUTN)之间插入第二电容器(1b)。本技术可进一步包括切换第一电容器(1a)和第二电容器(1b)以使得第一电容器被插入在第二输入(VINN)和第二输出(VOUTN)之间并且第二电容器(1b)被插入在第一输入(VINP)和第一输出(VOUTP)之间。
  • 用于自适应电平转换设备方法
  • [发明专利]X射线检查设备和方法-CN200580009337.8无效
  • W·J·尼森;E·B·范德克拉特斯;T·范瓦尔森;E·L·罗默斯;E·伊瓦诺夫;P·H·M·阿梅里卡 - 皇家飞利浦电子股份有限公司
  • 2005-03-11 - 2007-03-21 - A61B6/08
  • 本发明涉及一种使用成像单元(1-3)采集感兴趣区域的X射线图像数据的X射线检查设备和相应的方法,该成像单元包括发射X射线辐射的X射线源(2)和检测穿过所述感兴趣区域后的X射线辐射的X射线探测器(3)。为了提供快速、简单、减少患者受到的X射线剂量并且允许立即从期望且可能最佳的位置采集X射线图像数据,提出了根据本发明的X射线检查设备,其还包括:处理装置(22),基于预定图像采集计划(P)和/或器械(11)的实际位置(D)确定所述成像单元的期望位置,将在该期望位置采集X射线图像数据;控制装置(23),用于为所述期望位置确定所述成像单元(1-3)的位置参数;以及定位装置(30),使用所述位置参数将所述成像单元(1-3)定位在所述期望位置。
  • 射线检查设备方法

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