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[发明专利]差错纠正比特-CN202011553026.0在审
发明人： 马克·杰拉尔德·拉文;西蒙·约翰·克拉斯克 -专利权人： ARM有限公司
申请日： 2020-12-24 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本文涉及差错纠正比特。提供了一种数据处理装置，其包括存储电路，该存储电路包括多条线，所述多条线中的每一者包括数据值。访问电路一次访问所述多条线中的一对线，所述多条线中的所述一对线包括与所述数据值不同的额外数据值，并且包括多个差错比特，这些差错比特检测或纠正所述多条线中的所述一对线中的每条线中的数据值中的差错。
差错纠正比特

[发明专利]包括逻辑分析器电路的装置和逻辑分析方法-CN201610218241.2有效
发明人： 马克·杰拉尔德·拉文 -专利权人： ARM有限公司
申请日： 2016-04-08 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本公开涉及逻辑分析。包括逻辑分析器电路的装置包括：两个或多个连续触发条件检测器的连续集合，每个触发条件检测器被配置为检测相应触发条件以及与都具有相应事务标识符的数据处理事务相关的处理活动之间的匹配；触发条件检测器被配置检测匹配，使下一触发条件检测器能发起对其相应触发条件匹配的检测；以及事务标识符检测器，其与第一触发条件检测器相关联，被配置为检测与由第一触发条件检测器针对其检测到匹配的数据处理事务相关事务标识符，并将所检测到的事务标识符提供至后续触发条件检测器；后续触发条件检测器被配置为将所检测的事务标识符作为其相应触发条件的至少一部分来应用，从而检测仅关于具有该事务标识符的数据处理事务的匹配。
包括逻辑分析器电路装置分析方法

[发明专利]逻辑分析仪-CN201510276295.X有效
发明人： 马克·杰拉尔德·拉文 -专利权人： ARM有限公司
申请日： 2015-05-26 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G01R31/3177 文献下载
摘要：公开了逻辑分析仪。逻辑分析仪6具有状态控制器12和分析仪电路。逻辑分析仪在可编程的触发状态序列问切换，并在每个触发状态内生成索引信号。索引信号被用于控制分析仪电路选择可编程触发状态数据的适当部分，以便对所执行的与硬件信号值的匹配操作进行配置，该硬件信号值是从经受逻辑分析仪6的分析的硬件电路4采集的。
逻辑分析

[发明专利]数据处理-CN201711338051.5在审
发明人： 马克·杰拉尔德·拉文;艾伦·杰瑞米·贝克尔 -专利权人： ARM有限公司;安谋科技（中国）有限公司
申请日： 2017-12-14 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请公开了数据处理。提供了一种数据处理设备，该数据处理设备包括：至少一个存储器，被配置用于存储数据；处理电路，用于访问该至少一个存储器中的数据；存储器内置自测(MBIST)电路，具有用于访问该至少一个存储器的接口，并且被配置用于执行用于测试该至少一个存储器的至少一个目标存储器单元的测试程序，该测试程序至少包括将测试数据写入目标存储器单元；以及诊断电路，用于响应于由该处理电路执行的处理操作来执行诊断程序以生成诊断数据；其中该MBIST电路被配置用于控制将由该诊断电路生成的诊断数据写入到包括该至少一个存储器的至少一部分的暂时保留的存储器区域中的存储器单元的操作。
存储器目标存储器单元数据处理设备测试程序处理电路诊断电路诊断数据数据处理写入电路配置存储器单元存储器区域测试数据处理操作存储数据诊断程序内置自测访问测试响应保留申请