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[发明专利]用于光束的相位波前的选择性成形的设备及其应用-CN201880063225.8有效
发明人： M·罗伊斯;J·菲舍尔 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2018-08-02 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：一种用于使沿着光轴(11)入射的第一光束(57)的相位波前选择性地成形的设备(1)，该第一光束具有与光轴(11)正交地延伸的第一线性输入偏振方向，该设备具有双折射光学材料(14‑17，26，33)。设备(1)使第一光束(57)的第一相位在设备(1)的不同的部分区域(3‑6)中不同地延迟，并且不使沿着光轴(11)入射的第二光束(58)的第二相位在不同的部分区域(3‑6)中不同地延迟，该第二光束具有正交于第一线性输入偏振方向和光轴(11)的第二输入偏振方向。所述不同的部分区域(3‑6)在围绕光轴(11)的方向(12)上彼此相继，其中，双折射光学材料(14‑17，26，33)布置在所有或除了在所述不同部分区域(3‑6)中的一个之外的所有不同部分区域中。双折射光学材料(14‑17，26，33)使具有所述第一输入偏振方向的第一光束(57)在相位方面以在光轴(11)的外周上在方向(12)上从部分区域(3‑6)到部分区域(3‑6)地增加的度量发生延迟。
用于光束相位选择性成形设备及其应用

[发明专利]用于调准激光扫描荧光显微镜的方法和具有自动调准设备的激光扫描荧光显微镜-CN202210330027.1在审
发明人： J·海涅;M·罗伊斯;B·哈尔克;L·卡斯特鲁普 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2017-09-05 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：为了调节激光扫描荧光显微镜(15)的正确调准，在所述正确调准中激励光(6)的最大强度(1)和荧光阻止光(7)的最小强度(4)和/或布置在荧光探测器(18)前的光阑(2)的成像在镜头(20)的焦点中重合，以所述激励光(6)的最大强度(1)扫描样品(22)中的以荧光着色剂标记的结构，以便产生所述样品(22)的图像(A、B)，所述图像具有所述结构的影像(3，30，31，32)，并且由在所述图像中所述结构的所述影像(3，30，31，32)计算和补偿在所产生的图像中所述结构的成像的位置之间的错位(8)。在此，所产生的图像相应于所述荧光阻止光(7)的不同强度和/或所述光阑(2)的不同光阑开口。
用于调准激光扫描荧光显微镜方法具有自动设备

[发明专利]用于在荧光显微技术中像差校正的方法和装置-CN202080071381.6在审
发明人： M·罗伊斯;J·海涅;C·武尔姆 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：在用于三维扩展的样本的显微图像采集的方法中，在第一步骤(1)中、通过利用聚焦的激励光分布在与显微物镜的光轴平行的截面中扫描样本实现采集与显微物镜的光轴平行的第一截面图。在此，借助于可调设的校正机构按照像差校正函数的初始调设参数校正激励光分布；且在每个扫描位置探测从样本发出的荧光。在第二步骤(2)中实现第一截面图的分析处理。在第三步骤(3)中实现确定像差校正函数的新的调设参数。在第四步骤(4)中，通过利用聚焦的激励光分布扫描样本实现采集另外的图像数据，其中借助于可调设的校正机构按照像差校正函数的新的调设参数校正该激励光分布，且其中在每个扫描位置探测从样本发出的荧光。
用于荧光显微技术中像差校正方法装置

[发明专利]具有检测样品相对物镜移位的装置的显微镜及其检测方法-CN202111197272.1在审
发明人： R·施密特 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于检测样品(4)相对于物镜(2)的移位的方法。利用物镜(2)将样品(4)成像到图像传感器。利用图像传感器(14)拍摄样品(4)的图像，将样品(4)的光(29)记录在图像传感器(14)的像素上。选择图像传感器(14)的不多于90％的像素的子集。将图像的分别相应于图像传感器(14)的像素的子集的部分与至少一个参考图像的同样相应于图像传感器(14)的像素的子集的部分比较。确定在调设时段期间样品(4)的且记录在图像传感器(14)的各个像素上的光(29)的强度的离散量，分析被记录在图像传感器(14)的各像素上的光(29)的强度在调设时段上的时间变化曲线。将离散量用作在选择图像传感器(14)的像素的子集时的标准。
具有检测样品相对物镜移位装置显微镜及其方法

[发明专利]用于调准激光扫描荧光显微镜的方法和具有自动调准设备的激光扫描荧光显微镜-CN201780068291.X有效
发明人： J·海涅;M·罗伊斯;B·哈尔克;L·卡斯特鲁普 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2017-09-05 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：为了调节激光扫描荧光显微镜(15)的正确调准，在所述正确调准中激励光(6)的最大强度(1)和荧光阻止光(7)的最小强度(4)和/或布置在荧光探测器(18)前的光阑(2)的成像在镜头(20)的焦点中重合，以所述激励光(6)的最大强度(1)扫描样品(22)中的以荧光着色剂标记的结构，以便产生所述样品(22)的图像(A、B)，所述图像具有所述结构的影像(3，30，31，32)，并且由在所述图像中所述结构的所述影像(3，30，31，32)计算和补偿在所产生的图像中所述结构的成像的位置之间的错位(8)。在此，所产生的图像相应于所述荧光阻止光(7)的不同强度和/或所述光阑(2)的不同光阑开口。
用于调准激光扫描荧光显微镜方法具有自动设备

[发明专利]调整在显微镜中使用的估计器的方法、计算机程序和装置-CN202110901061.5在审
发明人： R.施密特 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2021-08-06 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种方法、一种计算机程序和一种装置，其用于调整在显微镜中使用的估计器，以用于基于在一组或多组探测位置处用光照射样本并针对该组探测位置获取荧光光子的方法来估计样本中的发射体的位置。本发明还涉及一种利用这种调整方法或装置的显微镜。根据本发明，样本在一组或多组探测位置处被用光照射(S1)，并且针对该组探测位置获取(S2)荧光光子。然后，将所获取(S2)的光子的光子计数添加(S3)到针对该组探测位置确定的光子计数向量或光子计数总和中。随后，从光子计数向量或光子计数总和确定(S4)代表背景噪声的值。然后，代表背景噪声的值用于实时调整(S5)估计器。
调整显微镜使用估计方法计算机程序装置

[发明专利]扫描头以及带有扫描头的装置-CN201610898147.6有效
发明人： J·菲舍尔;M·亨里希;G·唐纳特;M·罗伊斯 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2016-10-14 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：一种用于高分辨率扫描荧光显微检查的扫描头，包括：第一连接器，其将扫描头连接至光显微镜；第二连接器，其将扫描头连接至光源和荧光检测器；光束整形器，其将来自光源的光的第一部分整形为光显微镜的聚焦下的第一光强分布以及将所述光的第二部分整形为光显微镜的聚焦下的第二光强分布，所述第一光强分布具有由强度最大值包围的强度最小值，所述第二光强分布在第一光强分布的强度最小值的方位处具有最大强度；四个倾斜镜，其配置成利用光束对样本扫描；以及偏转器，其将荧光偏转至第二光学波导端口。
扫描以及带有装置

[发明专利]用于在显微镜中对样本进行点状照明的方法和装置-CN201980092767.2在审
发明人： B·哈克;L·卡斯特鲁普 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2019-12-23 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种借助照明光在显微镜、特别是MINFLUX显微镜中对样本(1)进行点状照明的方法，其中在预定义或可预定义的照明点图案(2)的照明点(3)处依序对所述样本(1)进行照明。所述方法的特征在于，所述照明点图案(2)的横向延伸小于所述照明光的最长波长并且始终仅时间上错开地对所述照明点(3)进行照明，所述照明点图案(2)的每个照明点(3)均对应有多个单个光源(4)中的固有的单个光源并且借助照明点所对应的单个光源(4)的照明光束(5)的焦点对每个照明点(3)进行照明。
用于显微镜样本进行照明方法装置

[发明专利]用于对试样的以荧光记号标记的结构高分辨率成像的方法和设备-CN202110222595.5在审
发明人： A·舍恩勒;C·武尔姆;B·哈尔克;G·唐纳特 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2016-10-14 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：为了对试样的以荧光记号标记的结构进行高分辨率成像，以光强度分布加载试样，在光强度分布中，聚焦的荧光激发光的强度极大值与聚焦的荧光阻抑光的由一些强度极大值包围的强度极小值叠加成光强度分布。在此，以聚焦的荧光阻抑光的强度极小值选择性地扫描试样的感兴趣的部分区域，记录从所述试样发射的荧光以及将其与聚焦的荧光阻抑光的强度极小值在试样中的相应的位置相对应。对于聚焦的荧光阻抑光的强度极小值的相应的位置，当已记录从试样发射的荧光的预给定的最大光量时，和/或，当在预给定的时间段之内还未记录从试样发射的荧光的预给定的最小光量时，至少中断试样的以光强度分布的聚焦的荧光阻抑光的加载。
用于试样荧光记号标记结构高分辨率成像方法设备

[发明专利]荧光显微镜及用于升级荧光显微镜的构件组和模块-CN202011374478.2在审
发明人： J·海涅;H·米特尔施泰特;M·罗伊斯;G·唐纳特 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：荧光显微镜(10)包括：样本照明光束路径，其包括用于照明光的光源(9)；用于提供具有中心强度最小值的聚焦照明光(8)的第一波前调制器(24)；分束器(26)；和布置在物镜(20)的光瞳面(30)中的第二可调波前调制器(34)。包括第二波前调制器(34)和望远镜(11)并且在分束器(26)处终止的第一检测光束路径区段与样本照明光束路径重合。单独的第二检测光束路径区段包括用于检测来自样品的荧光的检测器(38)。望远镜(11)将形成在光瞳面(30)中的第一光瞳(31)成像在较小的第二光瞳(32)中，并将第二光瞳(32)中准直的照明光(8)的光束转换成第一光瞳(31)中准直的扩大光束。
荧光显微镜用于升级构件模块

[发明专利]用于对试样的以荧光记号标记的结构高分辨率成像的方法和设备-CN201680061985.6有效
发明人： A·舍恩勒;C·武尔姆;B·哈尔克;G·唐纳特 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2016-10-14 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：为了对试样的以荧光记号标记的结构进行高分辨率成像，以光强度分布加载所述试样，在所述光强度分布中，聚焦的荧光激发光(14)的强度极大值与聚焦的荧光阻抑光(19)的由一些强度极大值包围的强度极小值叠加成光强度分布(22)。在此，以所述聚焦的荧光阻抑光(19)的强度极小值选择性地扫描所述试样的感兴趣的部分区域，其中，记录从所述试样发射的荧光(15)以及将其与所述聚焦的荧光阻抑光(19)的强度极小值在所述试样中的相应的位置相对应。对于所述聚焦的荧光阻抑光(19)的强度极小值的相应的位置，当已记录从所述试样发射的荧光(15)的预给定的最大光量时，和/或，当在预给定的时间段之内还未记录从所述试样发射的荧光(15)的预给定的最小光量时，至少中断所述试样的以所述光强度分布(22)的聚焦的荧光阻抑光(19)的加载。选择所述试样的感兴趣的部分区域，其方式是，使聚焦的荧光激发光在无荧光阻抑光(19)的情况下对准所述试样，其中，记录从所述试样发射的荧光(15)，其中，如果对于所述试样的一部分区域在预给定的测试时间段(Δt1)之内已记录从所述试样发射的荧光(15)的预给定的最小光量(LM1)，则将所述试样的所述部分区域定义为感兴趣的部分区域。
用于试样荧光记号标记结构高分辨率成像方法设备

[发明专利]用于监测显微镜的聚焦状态的方法和装置-CN202010440763.3在审
发明人： J·菲舍尔;M·亨里希;W·维勒默 -专利权人： 阿贝里奥仪器有限责任公司
申请日： 2020-05-22 - 公布日： 2020-11-24 - 主分类号： G02B21/24 文献下载
摘要：为了监测显微镜(1)的聚焦状态，将辅助光束(13)耦合输入到显微镜(1)中，以使得所述辅助光束在下述平面(20)上相对于面法线以倾斜角度延伸，所述平面在显微镜(1)的主成像区域(17)外部由在显微镜(1)的物平面(5)中延伸的直线(19)和物平面(5)的面法线展开，并且检测耦合输入的辅助光束(13)的由参考分界面(24)反射的部分(15)的入射区域(25)在检测装置(16)上的位置改变。
用于监测显微镜聚焦状态方法装置

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