专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于处理基板的设备-CN202211698270.5在审
  • 金泰信;郑映大;金源根;李智暎;郑智训 - 细美事有限公司
  • 2022-12-28 - 2023-06-30 - H01L21/67
  • 本发明提供了一种用于处理基板的设备,所述设备包括:具有处理空间的室;基板支撑单元,所述基板支撑单元在所述处理空间内支撑和旋转基板;液体供应单元,所述液体供应单元向支撑在基板支撑单元上的基板供应化学液体;激光照射单元,所述激光照射单元将激光照射到支撑在基板支撑单元上的基板的底部;以及激光反射单元,所述激光反射单元联接到所述激光照射单元并将照射并反射的激光反射到基板的底部,其中所述激光反射单元包括反射构件和驱动构件,所述反射构件反射从基板反射的激光,所述驱动构件使所述反射构件以预定的倾斜角倾斜。
  • 用于处理设备
  • [发明专利]用于处理基板的装置和用于处理基板的方法-CN202210871683.2在审
  • 李智暎;郑映大;郑智训;金源根;金泰信 - 细美事有限公司
  • 2022-07-22 - 2023-02-07 - H01L21/67
  • 本发明涉及用于处理基板的装置和用于处理基板的方法。本发明构思提供了基板处理装置。该基板处理装置包括支承单元,该支承单元水平地维持基板;激光照射单元,该激光照射单元用于用激光照射该基板;光检测器,该光检测器用于检测照射在该基板上的激光中从该基板反射的反射光的能量;以及处理器,并且其中,该处理器将第一输出的第一激光照射到该基板,并且基于由该光检测器检测到的该第一激光从该基板反射的第一反射光的能量,设置用于照射该基板以加热该基板的第二激光的第二输出。
  • 用于处理装置方法
  • [发明专利]基板处理设备及基板处理方法-CN202110855238.2在审
  • 李智暎;郑映大;郑智训;金泰信;金源根 - 细美事有限公司
  • 2021-07-28 - 2022-03-15 - H01L21/67
  • 本发明构思提供了一种基板处理设备和基板处理方法,该基板处理设备包括第一工艺腔室组,该第一工艺腔室组包括多个工艺腔室,每个工艺腔室包括将激光光束施用至基板以加热基板的激光光束发射单元;一个激光光束发生器,该一个激光光束发生器通过包括在第一工艺腔室组中的多个工艺腔室中的每个工艺腔室的激光光束发射单元产生施用至基板的激光光束;以及光束移动模块,该光束移动模块包括对应于包括在第一工艺腔室组中的多个工艺腔室的一个或多个镜。一个或多个镜中的每个镜被移动到镜形成激光光束的朝向多个工艺腔室中的预定的一个工艺腔室的光路的位置。
  • 处理设备方法
  • [发明专利]基板处理装置-CN202110976205.3在审
  • 郑智训;金源根;郑映大;金泰信;李智暎 - 细美事有限公司
  • 2021-08-24 - 2022-02-25 - H01L21/67
  • 本公开提供了一种基板处理装置。该基板处理装置包括支承基板的支承单元和激光单元,该激光单元向由支承单元支承的基板照射激光光束,该激光单元包括照射构件、透镜和反射构件,该照射构件照射激光光束,该透镜设置在由照射构件照射的激光光束的行进路径上、从而是可旋转的,该反射构件具有用于改变穿过透镜的激光光束的行进路径的倾斜表面。
  • 处理装置
  • [发明专利]一次性注射器-CN202110086775.5在审
  • 金泰信 - JT生物技术公司
  • 2021-01-22 - 2021-10-01 - A61M5/178
  • 本发明可提供一种一次性注射器,其包括:外壳;适配器;杆部,包括针杆部和加压杆部;加压部,包括第一框架和第二框架;及锁定部。在注射器使用一次之后使注射针自动插入到外壳内部,并且制作成注射针插入到外壳内部之后使注射针不再凸出的结构,进而无法再使用注射器。
  • 一次性注射器
  • [发明专利]用于蚀刻薄层的装置-CN202011458413.6在审
  • 金源根;金泰信 - 细美事有限公司
  • 2020-12-11 - 2021-07-02 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种用于蚀刻薄层的装置,包括:蚀刻剂供给单元,其构成为于基板上供给蚀刻剂以蚀刻形成在所述基板上的薄层;温度测量单元,其构成为在通过所述蚀刻剂执行蚀刻过程时测量所述基板的温度;激光照射单元,其构成为在包含所述基板的中央部分的第一部分上照射第一激光束,并且在围绕所述第一部分的第二部分上以环形照射第二激光束,从而在蚀刻过程中将所述基板的温度保持于预定温度;以及过程控制单元,其构成为基于由所述温度测量单元所测量的所述基板的温度来控制所述第一激光束和所述第二激光束的功率,以减小所述基板的所述第一部分和所述第二部分之间的温度差。
  • 用于蚀刻薄层装置
  • [发明专利]表面改性用光束均化器-CN201680080925.9有效
  • 刘泰俊;洪京喜;金泰信;黄承镇;申容旭 - 学校法人韩东大学校
  • 2016-11-14 - 2021-06-11 - B23K26/00
  • 根据本发明的表面改性用光束均化器包括:第一排列透镜,将从激光束照射单元照射的激光束分割成多个细光束,并包括确定上述激光束的形状的多个小透镜;第二排列透镜,使借助上述第一排列透镜来分割的多个细光束透射,并包括与上述第一排列透镜对应的多个小透镜;聚光透镜,使透射上述第二排列透镜的多个细光束聚光在对象的表面;等离子体发生防止部,设置于上述第一排列透镜与上述第二排列透镜之间,防止在上述细光束的焦点区域发生等离子体;损坏防止部,设置于上述聚光透镜与上述对象之间,防止上述聚光透镜被上述多个细光束照射上述对象的过程中所发生的能量损坏。
  • 表面改性用光均化器

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