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[发明专利]芯片测试管控方法及系统-CN202210668900.8在审
发明人：梅彬;何将伟;郝清山 -专利权人：上海亿存芯半导体有限公司
申请日： 2022-06-14 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片测试管控方法，包括：在待测芯片上设置测试信息存储区域，对所述待测芯片进行任意一种测试前，从所述测试信息存储区域读取测试信息，以判断是否进行当前测试，并在测试结束后，将当前测试的测试信息写入所述测试信息存储区域，在待测芯片上存储测试信息，并在测试前读取，能够保证当前测试的正确性，避免进行错误的测试，进而保证了测试流程的准确性。本发明还提供了一种芯片测试管控系统。
芯片测试方法系统

[实用新型]一种对电气设备进行直流绝缘试验的装置-CN202122677021.5有效
发明人： 郝清山 -专利权人： 郝清山
申请日： 2021-11-03 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种对电气设备进行直流绝缘试验的装置，包括箱体，所述箱体的顶部两侧对称合页转动连接有顶盖，所述箱体的内底部对称开设有凹槽，两个所述凹槽之间安装有升降机构，所述升降机构的顶部固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的顶端固定连接有放置板。本实用新型中，两个顶盖转向两侧，便于放置其他配件，电机转动带动螺杆转动，从而通过螺纹带动底板向上移动，从而便于带动器材本体向上移动，提高装置的实用性，通过第一弹簧和第二弹簧可以对器材本体进行吸震，从而避免器材本体受到损坏，调节旋钮转动可以带动连接板在开口内移动，从而对第二弹簧的松紧度进行调节，从而使得第二弹簧能够处于有效工作状态。
一种电气设备进行直流绝缘试验装置

[实用新型]一种地铁电气试验台-CN202120150112.0有效
发明人： 郝清山 -专利权人： 郝清山
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01M17/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及电气试验台技术领域，且公开了一种地铁电气试验台，包括仪器主体，所述仪器主体的两侧下端设置有侧板，所述侧板与仪器主体的两侧滑动连接，所述仪器主体的后侧下端设置有背板，所述背板的两侧与两个侧板的一侧固定连接，所述仪器主体的下方设置有底板，所述底板的三侧与两个侧板和一个背板的下端固定连接，所述仪器主体的前侧设置有台面，所述台面的一侧与仪器主体的下端铰链连接，通过在仪器主体的周侧和底面设置侧板、背板、台面和底板，可以在不使用电气试验台时对仪器起到保护作用。
一种地铁电气试验台

[发明专利]摄像头模组芯片的封装方法及摄像头模组-CN202110057603.5在审
发明人：王浩宾;高成虎;郝清山 -专利权人：上海亿存芯半导体有限公司
申请日： 2021-01-15 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供了一种摄像头模组芯片的封装方法及摄像头模组，所述封装方法包括如下步骤：S0、提供待封装的裸芯片；S1、将待封装的所述裸芯片粘在PCB板上或者其它模组芯片上；S2、通过金属焊线将所述裸芯片的焊盘与所述PCB板的焊盘或者所述其它模组芯片的焊盘连接在一起，所述一种摄像头模组，包括PCB板、感光芯片和功能芯片，所述功能芯片采用上述的封装方法封装在所述PCB板上，本发明的封装方法不仅有效降低了芯片封装后的厚度，而且减少了芯片的封装工艺，降低了摄像头模组的生产成本，同时有效缩短了芯片及摄像头模组的生产周期。
摄像头模组芯片封装方法

[发明专利]周期值调节方法及周期值调节系统-CN202011035984.9有效
发明人：何将伟;王浩宾;郝清山 -专利权人：上海亿存芯半导体有限公司
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种周期值调节方法，包括提供档位调节表，所述档位调节表包括初始控制参数、至少一个调节档位值以及至少一个调节控制参数；将所述初始控制参数写入待调节器件中，然后测试所述待调节器件的初始周期值，其中，所述待调节器件包括寄存器和存储器；根据目标周期值和所述初始周期值得到所述待调节器件的目标档位值；获取与所述目标档位值相同的调节档位值，然后将与所述调节档位值相对应的调节控制参数写入所述待调节器件中，以对所述待调节器件的周期值进行调节，无需频繁对所述待调节器件进行控制参数写入和周期值测试，降低了所述待调节器件的周期值调节难度，提高了周期值调节效率。本发明还提供了一种周期值调节系统。
周期调节方法系统

[实用新型]非挥发性存储器测试设备-CN201921969677.0有效
发明人：张新龙;王浩宾;郝清山 -专利权人：上海亿存芯半导体有限公司
申请日： 2019-11-14 - 公布日： 2020-07-10 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种非挥发性存储器测试设备，包括控制模块、电压转换模块、电源模块、承载模块、电流检测模块和电压检测模块，所述电源模块、所述电压转换模块、所述电流检测模块和所述电压检测模块均与所述控制模块连接，所述电压检测模块和电流检测模块均与所述承载模块连接，所述承载模块与所述电压转换模块连接，所述电压转换模块与所述电源模块连接。所述非挥发性存储器测试设备通过所述电源模块和所述电压转换模块可以调节非挥发性存储器件的输入电压，通过所述电压检测模块和所述电流检测模块可以检测出非挥发性存储器件的实时电压和实时电流，进而可以计算出非挥发性存储器的实时功耗，从而测算出非挥发性存储器的工作电压范围。
挥发性存储器测试设备

[实用新型]耐久性测试装置-CN201921282309.9有效
发明人：张新龙;王浩宾;郝清山 -专利权人：上海亿存芯半导体有限公司
申请日： 2019-08-06 - 公布日： 2020-01-21 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种耐久性测试装置，包括上位机和下位机组，所述上位机和所述下位机组连接，所述下位机组包括承载器件和n个下位机，每个所述下位机均包括控制模块、存储模块、地址选择模块和m个检测连接模块，所述存储模块、所述地址选择模块、m个所述检测连接模块和所述上位机均与所述控制模块连接，且所述控制模块与所述承载器件连接，m和n均为大于0的自然数。所述耐久性测试装置中，所述下位机组包括n个下位机，所述下位机包括m个所述检测连接模块，m个所述检测连接模块能够使所述耐久性测试装置同时与多个待测存储器件连接，从而实现多个待测存储器件的同时检测，提高检测的效率。
连接模块下位机组下位机检测耐久性测试装置控制模块上位机地址选择模块待测存储器承载器件存储模块本实用新型

[发明专利]存储系统及存储方法-CN201910503532.X有效
发明人：袁庆鹏;任建军;郝清山 -专利权人：上海亿存芯半导体有限公司
申请日： 2019-06-12 - 公布日： 2019-09-03 - 主分类号： G11C7/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储系统，包括控制单元、存储阵列、行解码单元、列解码单元和读出放大单元，所述存储阵列包括至少两个存储阵列单元。本发明的所述存储系统的不同存储阵列单元在所述控制单元的写入控制下存储相互独立的数据或者互为反码的数据，所述读出放大单元在所述控制单元的第一读出使能信号的控制下，读取单条选中位线上的独立数据，有利于实现数据存储的高密度配置；或者在所述控制单元的第二读出使能信号的控制下，同时接收不同选中位线上的位线信号，以读取不同所述位线上的互为反码的数据，满足了高可靠性的需求，提高了所述存储系统的应用灵活性。本发明还提供了应用所述存储系统实现的存储方法。
存储系统读取存储阵列单元读出放大单元读出使能信号存储存储阵列解码单元反码选中高密度配置应用灵活性独立数据高可靠性数据存储位线信号写入控制单条应用

[发明专利]串行非易失性存储器及解除存储器写保护的方法-CN201110350626.1有效
发明人：邵丹;郝清山;徐红如 -专利权人：聚辰半导体（上海）有限公司
申请日： 2011-11-08 - 公布日： 2012-03-21 - 主分类号： G06F12/14 文献下载
摘要：本发明提供一种串行非易失性存储器及解除存储器写保护的方法，该串行非易失性存储器包括具有多个存储区块的非易失性存储器阵列，这些多个存储器区块中的一个或多个具有锁定或解锁状态。在串行非易失性存储器中设置写保护电路模块，其中配置有逻辑电路以用于识别指定的锁定或解锁信号序列，并根据锁定或解锁信号序列在一安全区域中设置保护状态，以将多个存储器区块中的一个或多个置于锁定或解锁状态。在此，解锁信号序列包括至少两个信号序列：第一解锁基本信号序列，具有1至7个信号位，并被施加到存储器的地址输入针脚或逻辑低使能写保护输入针脚；第二解锁序列，在所述第一解锁序列之后被施加到存储器的串行数据针脚。
串行非易失性存储器解除存储器写保护方法

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