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[发明专利]应用于探针基座的绝缘件及其探针基座-CN201810339211.6有效
发明人：蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;谢健堉;侯志辉;陈彦均;潘亭蓁;林彦维 -专利权人：台湾中国探针股份有限公司
申请日： 2018-04-16 - 公布日： 2023-02-21 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明提供一种应用于探针基座的绝缘件，绝缘件具有一探针安装孔，其特征在于绝缘件为片状结构体，且具有复数通孔，探针安装孔位于绝缘件的中心，探针安装孔及通孔分别由绝缘件的第一表面贯穿至第二表面，第一表面及第二表面未设有探针安装孔及通孔的区域为共平面。而探针基座具有一基座本体及至少一复合式组件，基座本体具有至少一检测区，复合式组件设于检测区内，且具有至少一针孔以设置一探针，绝缘件则供以设于针孔内。如此可于应用时降低因阻抗不匹配造成的信号反射损失，提升探针检测的效能。
应用于探针基座绝缘及其

[发明专利]两用可拆式测试针结构-CN201810732627.4有效
发明人：蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;郑文瑛;谢健堉 -专利权人：台湾中国探针股份有限公司
申请日： 2018-07-05 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明提供一种两用可拆式测试针结构，供以针对待测物进行电性检测，包含一本体及一检测接头。该本体一端具有至少一第一旋卡部，且该本体是中空，以供容置探针；检测接头是中空状，且检测接头的一端对应第一旋卡部设有至少一第二旋卡部，以使本体与检测接头可以旋转方式相互卡合组接或卸除，检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔，穿孔供探针穿出，电性接触部则供与待测物接触以形成导通，如此可有效提升更换速率，并于组装后具备足够刚性与准直度而利于测试结构下压检测待测物电性状态。
两用可拆式测试结构

[实用新型]滚轮压制式导电体测试装置-CN202121067815.3有效
发明人： 谢健堉;郭士辅 -专利权人：台湾中国探针股份有限公司
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种滚轮压制式导电体测试装置，包括一安装座、一测试座、一活动盖、一压缩弹力组及一连动支臂组。其中该活动盖系通过该压缩弹力组而间隔活动设置于该安装座一侧，且该连动支臂组活动连接于该安装座及该活动盖之间，该测试座夹设于该安装座及一测试电路板之间，通过该连动支臂组的一对第一支臂的前端分别设有一滚轮，其设置方向系对应进行压制的方向，其不但能够避免电气连接时的信号传输错误，还能利用该压制滚轮沿着该导电体表面滑移而不会磨损其表面纹路。
滚轮压制导电测试装置

[实用新型]单臂压制式导电体测试装置-CN202121799052.1有效
发明人： 谢健堉;郭士辅 -专利权人：台湾中国探针股份有限公司
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种单臂压制式导电体测试装置，包括一安装座、一测试座、一活动盖、一第一弹力组及一连动支臂组。其中该活动盖系通过该第一弹力组而间隔活动设置于该安装座一侧，且该连动支臂组活动连接于该安装座及该活动盖之间，该测试座夹设于该安装座及一测试电路板之间，通过该连动支臂组的一第一支臂的该压制盖特殊设计，其内部活动设有一压制块，以在进行压制时由该导电体顶面的中央部位自动调整角度并平均地下压，而避免电气连接时的信号传输错误以及其表面纹路有磨损。
压制导电测试装置

[发明专利]可替换的模块化电性检测头及其测试针-CN202010285539.1在审
发明人：郑文瑛;谢健堉;蔡伯晨 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2020-04-13 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明提供一种可替换的模块化电性检测头及其测试针，该可替换的模块化电性检测头是中空帽型薄壳状导电结构，且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口，中空帽型鞘套部为管状结构，环形帽沿部为片状结构并由中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构，形变回复缺口由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘，据此施力使形变回复缺口靠合并于中空帽型鞘套部置于测试针本体的穿孔后，当形变回复缺口复归时即可让中空帽型鞘套部撑抵于穿孔的内表面。如此可达到快速且简易的更替功效，且相较于传统的测试针结构，本发明除了制造简易也具有更低廉的生产成本。
替换模块化检测及其测试

[实用新型]可替换的模块化电性检测头及其测试针-CN202020538181.4有效
发明人：郑文瑛;谢健堉;蔡伯晨 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2020-04-13 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型提供一种可替换的模块化电性检测头及其测试针，该可替换的模块化电性检测头是中空帽型薄壳状导电结构，且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口，中空帽型鞘套部为管状结构，环形帽沿部为片状结构并由中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构，形变回复缺口由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘，据此施力使形变回复缺口靠合并于中空帽型鞘套部置于测试针本体的穿孔后，当形变回复缺口复归时即可让中空帽型鞘套部撑抵于穿孔的内表面。如此可达到快速且简易的更替功效，且相较于传统的测试针结构，本实用新型除了制造简易也具有更低廉的生产成本。
替换模块化检测及其测试

[实用新型]快拆型电性测试针及电性检测装置-CN202020404107.3有效
发明人：郑文瑛;谢健堉;蔡伯晨 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型提供一种快拆型电性测试针及其电性测试装置，测试针包含测试针本体、检测头元件及第一弹性导电固定件，检测头元件具有相对设置的连接端及检测端，且穿设有一探针，连接端供以自测试针本体一端的穿孔插设至测试针本体内，检测端供与待测物接触。第一弹性导电固定件为中空管状结构且装设于测试针本体内，连接端插设于穿孔时位于第一弹性导电固定件的中空区域而受其夹持固定，且第一弹性导电固定件相对测试针本体的外撑力大于第一弹性导电固定件相对连接端的夹固力。而电性检测装置具有一基座以供安装快拆型电性测试针。如此，通过第一弹性导电固定件可让检测头元件可相对测试针本体达到快速拆卸与组设的功效，大幅提升应用与维修上的便利性。
快拆型电性测试检测装置

[实用新型]两用可拆式测试针结构-CN201821062945.6有效
发明人：蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;郑文瑛;谢健堉 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2018-07-05 - 公布日： 2019-02-01 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型提供一种两用可拆式测试针结构，供以针对待测物进行电性检测，包含一本体及一检测接头。该本体一端具有至少一第一旋卡部，且该本体是中空，以供容置探针；检测接头是中空状，且检测接头的一端对应第一旋卡部设有至少一第二旋卡部，以使本体与检测接头可以旋转方式相互卡合组接或卸除，检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔，穿孔供探针穿出，电性接触部则供与待测物接触以形成导通，如此可有效提升更换速率，并于组装后具备足够刚性与准直度而利于测试结构下压检测待测物电性状态。
待测物检测旋卡电性接触部测试针可拆式穿孔探针本实用新型测试结构电性检测电性状态下压检测旋转方式卡合组中空状准直度中空穿出导通容置组装

[实用新型]应用于探针基座的绝缘件及其探针基座-CN201820540891.3有效
发明人：蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;谢健堉;侯志辉;陈彦均;潘亭蓁;林彦维 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2018-04-16 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型提供一种应用于探针基座的绝缘件及其探针基座，该绝缘件具有一探针安装孔，其特征在于绝缘件为片状结构体，且具有复数通孔，探针安装孔位于绝缘件的中心，探针安装孔及通孔分别由绝缘件的第一表面贯穿至第二表面，第一表面及第二表面未设有探针安装孔及通孔的区域为共平面。而探针基座具有一基座本体及至少一复合式组件，基座本体具有至少一检测区，复合式组件设于检测区内，且具有至少一针孔以设置一探针，绝缘件则供以设于针孔内。如此可于应用时降低因阻抗不匹配造成的信号反射损失，提升探针检测的效能。
绝缘件探针基座探针安装孔针孔复合式组件第二表面第一表面基座本体通孔应用本实用新型片状结构体复数通孔探针检测信号反射共平面检测区探针阻抗匹配贯穿检测

[外观设计]探针测试头-CN201830370296.5有效
发明人：蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;郑文瑛;谢健堉 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2018-07-10 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：探针测试头。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品是一种安装于探针本体上，与待测物接触形成电性导通作用的探针测试头。3．本外观设计产品的设计要点：本外观设计产品的设计要点在于产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。
外观设计探针测试电性导通探针本体待测物图片

[实用新型]微型同轴测试针-CN201820496536.0有效
发明人：蔡伯晨;陈威助;谢健堉;吕彦辉;陈彦均;侯志辉;潘亭蓁 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2018-04-09 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型提供一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，模块化元件为中空圆柱体，并套设于探针外侧，且探针的两端分别凸出于模块化元件的两端，并模块化元件与探针为非导通状态；限位件位于探针及模块化元件之间，并模块化元件对应限位件设有复数挡抵部，或探针对应限位件设有至少一挡抵部，以通过挡抵部与限位件接触达到限制探针位移的功效。如此提供模块化的测试针产品，而可免于依序植针的不便组装程序，且可提升测试针的适用度，尤针对高频测试更是具有极佳的干扰阻却效能。
模块化元件探针测试针限位件微型同轴挡抵部本实用新型非导通状态中空圆柱体高频测试模块化适用度抵部复数一挡植针组装

[实用新型]探针结构-CN201420820301.4有效
发明人：郑育旻;罗友昱;谢健堉 -专利权人：中国探针股份有限公司
申请日： 2014-12-22 - 公布日： 2015-05-20 - 主分类号： H01R13/24 文献下载
摘要：本实用新型提供一种探针结构，具有一套管、一针轴及一弹性体，针轴容置于套管内并凹设有一第一凹槽供以容设该弹性体，针轴受压后与套管内壁接触形成一第一导电通路，其特征在于，更具有一导电元件，设于套管底侧且一端套接于该第一凹槽内并凹设有一第二凹槽，使弹性体同时位于第一凹槽与第二凹槽内，当针轴受压移动时第二凹槽的内侧壁与导电元件外侧壁接触形成一第二导电通路。由此，本实用新型通过双导电路径维持稳定电流传递效率，以降低接触不良或断讯情况发生，同时本实用新型具有极佳的结构稳固性。
探针结构

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