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[发明专利]蓄热片-CN201780026546.6有效
发明人： 藤崎健一;小关祐子 -专利权人： DIC株式会社
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： C08J5/18 文献下载
摘要：技术问题在于提供一种具有良好的蓄热性，并且在加工时、运输时也不易发生开裂的蓄热片。解决手段为，本发明的蓄热片是在树脂基体中分散有蓄热材料的蓄热片，因此具有容易切断加工等的柔软性，同时使拉伸强度为0.1MPa以上且拉伸断裂时的伸长率为10％以上，所以不会太脆，通过发生一定的伸长，能够在加工时、运输时适宜地抑制开裂，即使在制成厚膜的柔软蓄热片时也容易加工、运输，能够有用地适用于要求节能化的各种用途。
蓄热

[发明专利]蓄热成型体、蓄热层叠体和蓄热成型体的制造方法-CN201680031768.2有效
发明人： 藤崎健一;小关佑子 -专利权人： DIC株式会社
申请日： 2016-06-21 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： C09K5/06 文献下载
摘要：一种蓄热成型体，其为在树脂基质中分散蓄热材料而成的蓄热成型体，树脂基质由含有热塑性树脂和增塑剂的树脂组合物构成，增塑剂为非邻苯二甲酸系增塑剂，增塑剂与蓄热材料的HSP距离为6以上，利用该蓄热成型体，能够实现与石膏板等刚性材料相比良好的柔软性、处理性，并且能够抑制高温下脱离成分从蓄热成型体脱离，能够实现良好的蓄热性、适宜的耐热性，另外，由于将含有热塑性树脂和增塑剂的树脂组合物作为基质材料，因此与石膏板等刚性材料相比，柔软性、处理性优异。
蓄热成型层叠制造方法

[发明专利]蓄热层叠体-CN201780026297.0在审
发明人： 藤崎健一;小关祐子;古川知行 -专利权人： DIC株式会社
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： B32B9/00 文献下载
摘要：技术问题在于提供一种蓄热层叠体，具有根据使用形态而能够对适温保持做出贡献的蓄热性，并且耐燃烧性优异。解决手段为通过蓄热层叠体解决上述技术问题，该蓄热层叠体的特征在于，为无机系基材和有机系蓄热层层叠而成的蓄热层叠体，前述无机系基材是厚度为8mm以上、在温度105℃下作为恒量时的质量减少率(将干燥前的试样的质量设为w₁、将在温度105℃下进行加热干燥而成为恒量时的试样的质量设为w₂时，用[(w₁‑w₂)/w₁]×100(％)表示)为4质量％以上的无机系基材。
蓄热层叠体无机系基材恒量加热干燥使用形态质量减少燃烧性蓄热层蓄热性有机系

[发明专利]蓄热性组合物-CN201780026545.1在审
发明人：小关祐子;藤崎健一;小池淳一郎;丰村恭一 -专利权人： DIC株式会社
申请日： 2017-06-15 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： C08L101/12 文献下载
摘要：本发明利用一种蓄热性组合物，能够实现厚膜的涂覆，并且即使在厚膜涂覆时也不易发生流挂，因此能够通过涂覆而简易且连续地形成超过1mm的厚膜片，该蓄热性组合物为含有树脂和蓄热材料的蓄热性组合物，利用圆筒形旋转粘度计测定的粘度为100～1000dPa·s，通过动态粘弹性测定法以温度25℃、应变0.1％测定的角频率1rad/s时的储能模量(G’)为3Pa以上。
蓄热性组合物厚膜涂覆动态粘弹性旋转粘度计储能模量蓄热材料测定法角频率圆筒形树脂流挂简易

[发明专利]蓄热成型体、蓄热层叠体和蓄热成型体的制造方法-CN201680031769.7在审
发明人： 藤崎健一;小关佑子 -专利权人： DIC株式会社
申请日： 2016-06-21 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： C09K5/06 文献下载
摘要：一种蓄热成型体，其为在树脂基质中分散蓄热材料而成的蓄热成型体，树脂基质由含有热塑性树脂和增塑剂的树脂组合物构成，增塑剂为非邻苯二甲酸系增塑剂，在蓄热材料中混合增塑剂时基于JIS K5101‑13‑1测定的相对于蓄热材料100质量份的增塑剂的吸收量为150质量份以下，利用该蓄热成型体，能够实现与石膏板等刚性材料相比良好的柔软性、处理性，并且能够抑制高温下脱离成分从蓄热成型体脱离，能够实现良好的蓄热性、适宜的耐热性。
蓄热成型层叠制造方法

[发明专利]电子照相装置用刮板支撑体-CN201480056539.7在审
发明人：堀真司;广富贤;增山刚千;高嶋均;中见正宏;中岛英贵;藤崎健一 -专利权人：阪东化学株式会社
申请日： 2014-08-18 - 公布日： 2016-06-01 - 主分类号： G03G21/10 文献下载
摘要：本发明以下述内容为课题，即，在形状不同的刮板支撑体间使设置加工基准结构的位置一致，并通过使用具有与该加工基准结构嵌合的嵌合结构的夹具，来使用于形状不同的多种的刮板支撑体的定位的夹具通用化。由于对于形状不同的刮板支撑体能够使夹具通用化，因此可减轻夹具制作的人的负担、费用负担。通过将通用化后的夹具与连续制造装置组合，能够连续地制造刮板支撑体的形状不同的多品种的刮板，而不需要交换夹具。作为解决方法，提供一种形成有2个以上的加工基准结构、及2个以上的安装基准结构的刮板支撑体。
电子照相装置用刮板支撑

[发明专利]测试装置-CN200480010037.7无效
发明人： 藤崎健一 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-03-24 - 公布日： 2006-05-17 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：一种测试装置，包括产生向被测试元件供给的位址信号及测试信号，以及被供给测试信号的被测试元件应输出的期望值信号的图形生成器、将被测试元件输出的输出信号和期望值信号进行比较，并在不一致的情况下产生失效信号的逻辑比较器、储存逻辑比较器产生的失效信号的不良解析记忆体。不良解析记忆体具有将图形生成器产生的位址信号的值即失效位址值，及逻辑比较器产生的失效信号的值即失效数据值，作为1组数据依次进行储存的第1储存部、从第1储存部读出失效位址值及失效数据值的组合，并在失效位址值表示的位址将失效数据值进行储存的第2储存部。
测试装置

[发明专利]半导体存储器试验装置-CN98108005.7无效
发明人：佐藤新哉;藤崎健一 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1998-03-19 - 公布日： 2004-08-04 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：一种半导体存储器试验装置，在与能够在高速试验方式下同时进行试验的半导体存储器的个数相同数量的m个不良解析存储器单元13₁～13_m中分别设置与交替动作的相数相同的n个输入端子组IN₁～IN_n、存储器控制部、以及存储块；在各存储器控制部中设置与交替动作的相数相同的n个故障格式部FLFO₁～FLFO_n和n-1个多路复用器；并且在各存储块中设置与交替动作的相数相同的n个存储体。在低速试验方式时，在所有的输入端子组IN₁～IN_n中分别输入低速故障数据LFAL₁～LFAL_n，在各不良解析存储器单元的存储器控制部中设置与交替动作的相数相同数量的n个故障格式部FLFO₁～FLFO_n，由此来将这些低速故障数据由n-1个多路复用器通过故障格式部FLFO₁～FLFO_n分别存储在各存储块的n个存储体中分别存储低速故障数据LFAL₁～LFAL。
半导体存储器试验装置

[发明专利]存贮器试验装置-CN97121363.1无效
发明人： 藤崎健一 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1997-09-18 - 公布日： 2002-10-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种存贮器试验装置，能从具有与被试存贮器相同存贮容量的不佳分析存贮器读出试验后的不佳存贮器单元信息并完成合计不佳存贮器单元的个数的处理。将不佳分析存贮器的存贮容量细分成多个存贮器块，设置标志存贮器，给各存贮器块分配一个地址。在一个存贮器块中发生失效时就在与此存贮器块对应的标志存贮器的地址上写入作为失效信息的逻辑“1”。试验结束后检测写入逻辑“1”的标志存贮器的地址，读出存贮器块内容以合计失效信息。
存贮器试验装置

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