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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]接触式探针-CN03821790.2有效
发明人：史蒂芬·爱德华·卢默斯;戴维·罗伯茨·姆克莫特瑞 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-09-05 - 公布日： 2005-10-12 - 主分类号： G01B7/012 文献下载
摘要：本发明公开一种接触式探针(10，50)，包括：容纳第一定位件(23，58)的探针壳体(12，52)具有第二定位件(24，57)的触针架(16，54)，该第二定位件和上述第一定位件相配合，以将触针架定位在上述探针壳体内；使上述第一和第二定位件相接触的偏压件(36，68，86)，其中，设置有元件(35，50，76，90)，用以衰减在上述探针壳体和触针架之间的运动。上述元件可以通过抵抗上述偏压件的偏压作用或者吸收上述探针壳体和触针架之间相对运动产生的能量而减缓上述定位件之间的相对运动。上述元件可相对于探针头部和触针架之一以可滑动方式或可旋转方式安装。
接触探针

[发明专利]扫描方法-CN03820430.4无效
发明人：戴维·罗伯茨·姆克莫特瑞 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-08-29 - 公布日： 2005-10-05 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：公开了一种扫描物体的方法，其包括以下步骤：提供扫描设备，其具有探测器和样品支架，由此样品支架相对于探测器是可转动的；提供用于表示扫描起始和/或结束的第一特征；和识别该第一特征，由此在该第一特征得到识别时，扫描设备准备开始或者结束扫描。扫描设备可以具有固定停顿处，其包括第一特征，可替换地，在扫描设备或者物体上提供该第一特征。可以提供例如位于扫描设备或者物体上的第二特征，其中第一特征表示扫描起始，而第二特征表示扫描结束。还公开了一种用于扫描物体的装置。
扫描方法

[发明专利]转动标尺-CN03817065.5有效
发明人：戴维·罗伯茨·姆克莫特瑞;詹姆斯·雷诺兹·亨肖;亚历山大·戴维·斯科特·埃林 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-07-16 - 公布日： 2005-09-14 - 主分类号： G01D5/347 文献下载
摘要：一种应用于标尺读数器的转动环，包括一个柔性环(10)，该柔性环在其表面设置有标尺刻度(14)。所述转动环通过为机器部件(22)提供了一个增大直径的区域(26)并在该增大直径区域拉伸和收缩所述柔性环(10)而安装在该机器部件上。因此，该转动环的制造公差或例如热膨胀的差异就通过将其拉伸或收缩就位而得以抵消。例如，所述增大直径区域可包括一个环形突起或一个O形环。
转动标尺

[发明专利]校准扫描系统的方法-CN03815688.1有效
发明人：大卫·罗伯茨·麦克默特里;杰弗瑞·姆法兰 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-07-04 - 公布日： 2005-09-07 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：一种在坐标定位设备上测量物体的方法。在坐标定位设备上放置一个第一物体，用工件接触探针测量第一物体以创建测量数据。在多个触针弯曲量或探针力下收集测量数据。对于第一物体表面上的多个点，外插测量数据到与零触针弯曲量或零探针力对应的数据。根据测量数据和外插数据创建误差函数或图。然后用已知的触针弯曲量或已知的探针力测量后面的物体，并且使用误差函数或图对这些测量进行误差修正。
校准扫描系统方法

[发明专利]激光校准仪-CN03815949.X无效
发明人：大卫·罗伯茨·麦克默特里;雷蒙·约翰·钱尼;马克·阿德里安·文森特·查普曼;史蒂芬·马克·安古德 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-07-07 - 公布日： 2005-09-07 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：一种用于测量第一物体与第二物体间相对运动中运动轨迹偏离直线的偏差的装置，包括：安装于一个物体上的发射器单元；安装于另一物体上的光学单元。其中，该发射器单元将至少一束光束指引向该光学元件，使两束或多束光束进入光学元件。发射器单元和光学单元的其中之一装有两个或多个探测器，以探测两束或多束发射到光学单元或从光学单元反射回来的光束。探测器上的光束的位置用于在至少一个自由度上计算一个物体相对于另一物体的运动轨迹与直线的偏差。这使得能够测量直线度、俯仰、滚转、平摆和垂直度。
激光校准

[发明专利]测量机器上物体的装置和方法-CN200510064136.X有效
发明人：维克托·戈登·斯廷普森;乔恩·保罗·富格;威廉·肯尼思·戴维斯;诺曼·约翰·利特;科利亚·蒂莫西·贝尔 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2000-11-17 - 公布日： 2005-08-31 - 主分类号： B23Q17/24 文献下载
摘要：光源产生注入检测器的光束，检测器在其上注入的光束被工具遮挡时产生触发信号。为防止在光束在被落下冷却液遮挡时产生触发信号，检测器在每次光束被遮挡时产生检测信号，但仅在产生较早的检测信号特定时间间隔内又在检测器内出现检测信号时，检测器才发出输出信号。产生时间间隔的方法之一是旋转工具旋转时的切割边遮挡光束的时间间隔(t1)。如果未在间隔(t1)的末端的间隔(t2)内产生第二信号，不产生触发信号。
测量机器物体装置方法

[发明专利]断裂工具探测器-CN03810017.7无效
发明人：科林·蒂莫西·贝尔;维克托·戈登·斯廷普森 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-05-02 - 公布日： 2005-08-03 - 主分类号： B23Q17/24 文献下载
摘要：本发明涉及使用探测器(5)对机器上使用的工具(50)和其它物品的探测。当工具定位在光束中时，发射器(10)发射激光光束(20)，使用传感器(30)确定是否存在工具(50)。如果在预定的时间周期内在传感器(30)处探测到光，那么工具一定是断裂了，并且锁住探测器的输出。因此如果有断裂的工具并且污物阻挡了光束，那么只要探测到一些光也将忽略这种影响。
断裂工具探测器

[发明专利]机器改进-CN03808886.X有效
发明人：大卫·科林伍德;格拉汉姆·理查德·福格森;蒂莫西·唐纳德·海特;蒂姆·普利斯蒂吉;克利夫·埃斯蒙德·哈伍德·伦顿;爱德华·斯托特;大卫·肯尼斯·托玛斯 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-04-17 - 公布日： 2005-07-27 - 主分类号： B23Q1/00 文献下载
摘要：本发明涉及电和/或数据从/到机床(200)的固定部分到/从装配在机床(200)主轴(210)中的辅助装置(100)的传输。第一电链路或接口1a、1b、1c、1d提供了固定部分(200)和主轴(210)之间的电连通，并且第二电链路或接口(3)在辅助装置装配区域(230)处提供了到第一电链路的电连接。第二链路(3)为电触点的形式。本发明可以扩展到用于装配到机床主轴(210)的辅助装置柄(360)，并且还可以扩展到连接到所述柄(360)的例如测量探针形式的辅助装置(100)。
机器改进

[发明专利]转换坐标定位机操作组件的装置-CN03807360.9无效
发明人：史蒂芬·詹姆士·特鲁尔;大卫·罗伯茨·麦克默特里 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-03-27 - 公布日： 2005-07-20 - 主分类号： G01B5/012 文献下载
摘要：一种将磁耦合作业组件(18)从安装在机器上的组件探头(16)分离的存储端口(20)，包括一个壳体(22)和容纳在作业组件(18)中的旋转臂(24)。具有利用机械优点将作业组件探头体分离的一个机构，从而机器的物理运动驱动所述机构，将作业组件(18)从组件探头(16)分离。旋转臂(24)可以绕枢轴(26)转动，从而当探头向上移动时，作业组件(18)也被向上拉动，促使旋转臂(24)和作业组件(18)绕枢轴(26)转动，从而使作业组件(18)和探头(16)通过倾斜作用而分开。还具有缓冲构件(38、48、60、62)以确保旋转臂(24)的平稳和可控运动。
转换坐标定位操作组件装置

[发明专利]动态人工制品比较-CN03805194.X有效
发明人：本杰明·罗莱·泰勒;杰弗瑞·姆法兰 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-03-06 - 公布日： 2005-07-13 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：一种使用坐标量测仪检查一系列工件的方法，包含下面的步骤：在坐标量测仪上高速测量校准人工制品(28)；产生对应于在校准人工制品和测量人工制品之间的差值的误差映射(30)；以相同的高速测量后续工件(34)并且使用误差映射修正后续工件的测量结果(36)。该人工制品可以是多个工件中的一个。
动态人工制品比较

[发明专利]模拟探头-CN03802783.6无效
发明人：彼得·海杜基威兹;杰弗瑞·姆法兰 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-01-27 - 公布日： 2005-06-01 - 主分类号： G01B5/012 文献下载
摘要：一种探头(8)包括一个壳体(10)；一个可以相对于壳体移动的元件(20)，一个触针(12)可以安装在该元件上，从而触针的运动导致该元件的运动；以及一个第一传感器(50，52)，用于测量该元件相对于壳体的运动。该元件可以相对于壳体固定在一个精确预定的静止位置(22，24)，使得探头处于一个机械基准位置。对于一种组合式传感器探头，可以锁定第一传感器(50，52)而同时可以使用第二传感器(70)。当处于该机械基准位置时第一传感器的输出可以作为基准。驱动装置(40，50，60)或偏压装置(26)沿着一个轴线将该元件沿所有轴线固定在其静止位置。
模拟探头

[发明专利]可再定向的试样座-CN03802522.1有效
发明人：戴维·罗伯茨·麦克默特里 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-01-22 - 公布日： 2005-05-25 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：公开了一种装置，包括一个基座(2)以及一个可再定向的试样座(4)，该可再定向的试样座(4)可以在至少第一和第二侧面可重复地(可能是运动地)安装在基座(2)上，其中当安装在基座上时该至少两个表面之间的关系已知，从而当试样(13)安装在试样座上时，试样座的不同表面接纳在基座上时试样的不同方向之间的关系已知。该至少两个表面之间的关系可以由试样座(4)上的基准特征确定，这些基准特征提供了试样座当其接纳在基座上时的位置信息。基准特征可以由连接于试样座的基准块、球或杆提供。还公开了利用本发明的基座和可再定向的试样座至少分两个阶段在试样上操作，例如扫描或机加工的装置和方法。
定向试样

[发明专利]激光标记-CN03802439.X有效
发明人：亚历山大·戴维·斯科特·埃林;詹姆斯·雷诺兹·亨肖 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-01-20 - 公布日： 2005-05-25 - 主分类号： B23K26/06 文献下载
摘要：一种用于生产以不锈钢条带(10)形式的度量刻度尺的精密标记(28)的方法和设备。采用激光器(21)来产生超短脉冲，这些脉冲在条带上具有这样一个通量，从而能够进行烧蚀。可以利用扫描仪(25)使该激光扫描，并且可以控制标记(28)的间距。该烧蚀技术所引起的热输入很小并且提高了刻度尺的精确度。
激光标记

[发明专利]光学测量系统的光学校准元件-CN03802346.6有效
发明人：史蒂芬·马克·安古德;戴维·罗伯茨·姆克莫特瑞 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-01-16 - 公布日： 2005-05-18 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：一种用于校准机床的测量系统，测量系统包括可连接到机床表面的基座(10)；和可安装到基座上的外罩(20)；其中基座的至少一个表面和外罩的至少一个表面均配置有安装装置的互补部分，使得当把安装装置的两个部分连接到一起时，外罩可以在多个预定方向中的任何一个方向上对齐。基座包括提升机构(64)，当其降低时能够使外罩(20)和基座(10)的安装装置(93，95)的互补部分接触，并当其升高时导致至少部分地破坏彼此的接触。可以利用球体和锥形辊调节基座(10)的水平。
光学测量系统校准元件

[发明专利]反作用平衡旋转驱动机构-CN02825103.2无效
发明人：肯尼斯·郑－霍·奈;尼古拉斯·约翰·文森特;若弗雷·麦克法兰;大卫·罗伯茨·麦克默特里 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2002-12-16 - 公布日： 2005-04-06 - 主分类号： H02K16/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种旋转驱动机构，包括：壳体(10)；具有第一转子(38)和连接于该壳体的第一定子(32)的第一电机；具有第二转子(52)和连接于该壳体的第二定子(54)的第二电机；其特征在于，该第二电机在机械上独立于第一电机，从而第一电机的加速转距至少部分地被第二电机惯性平衡。该平衡是由第二电机的相等的反向旋转实现的。设置控制装置，其为第二电机提供与提供给第一电机的电流成比例的电流。还公开了一种具有这种旋转驱动机构的定位装置和探针。
反作用平衡旋转驱动机构

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