“瑞尼斯豪公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果403个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]编码器-CN201680070951.3在审
发明人：芬利·乔纳森·埃文斯;詹姆斯·雷诺兹·亨肖;史蒂芬·林德西·托克奈尔;理查·大卫·詹姆士·吉尔瑞 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2016-12-01 - 公布日： 2018-08-03 - 主分类号： G01D5/347 文献下载
摘要：一种密封式编码器模块，用于安装到机器上以便测量该机器的第一与第二部分的相对位移。该密封式编码器模块可以包括：刻度尺、包括刻度尺信号接收器的读头、以及至少封装该刻度尺和该刻度尺信号接收器的一体式保护壳体。该密封式编码器模块可以被配置用于确定并输出关于由该读头检测到的刻度尺信号的诊断信息。
刻度尺编码器模块密封式信号接收器读头保护壳体相对位移诊断信息编码器封装测量输出检测配置

[发明专利]对工件制造中的包括增材制造机器的机器链的控制或与之相关的改进-CN201680069911.7在审
发明人：杰弗里·麦克法兰;拉姆库马尔·瑞瓦努尔;马克·白金汉 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2016-09-29 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G05B19/4099 文献下载
摘要：本发明涉及一种为用于制造工件的制造链(101)的机器生成指令的设备。该设备包括处理器(131)，该处理器被布置成用于：接收工件(218)的基于模型的定义(MBD)，该基于模型的定义包括几何尺寸和公差；接收用于设定增材构建设计的输入，该增材构建设计用于基于这些几何尺寸来构建该工件(218)；基于该增材构建设计来为该制造链(101)的增材制造机器(103a，103b，103c)生成增材指令；根据该增材构建设计来确定预期来自增材构建的预期中间工件产品；确定该预期中间工件产品与该工件的基于模型的定义之间的差异；并且基于该差异来为该制造链(101)的至少一个另外的机器(104、105至110)生成另外的指令。
构建制造链制造机器中间工件处理器指令工件制造生成指令公差机器链改进制造

[发明专利]旋转检测设备-CN201480053405.X有效
发明人：阿拉斯·弗朗索瓦·雅茹尔;艾伦·詹姆斯·霍洛韦 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2014-07-31 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01D5/34 文献下载
摘要：一种旋转检测设备(2)，其包括：束源(6)，其用于发射偏振光束；散屑布置(39)，其用于消除或至少减少所述偏振光的第一和第二独立偏振分量之间的相干度以产生经散屑的偏振光束(108)；检测器(46A、46B)，其用于取决于入射在其上的光的强度输出信号，所述检测器(46A、46B)经布置使得所述经散屑的偏振光束(108)入射到其上；偏振器(41)，其用于定位在所述经散屑的偏振光束(108)的路径中，使得所述偏振器(41)相对于所述经散屑的偏振光束(108)的旋转导致从所述束源(6)入射到所述检测器(46A、46B)的所述光的强度的变化以及在从所述检测器(46A、46B)输出的所述信号中的相对应的变化；以及处理器(48A、48B、48C)，其用于基于从所述检测器(46A、46B)输出的所述信号的所述变化检测所述相对旋转。还描述了其它类型的旋转检测设备。
检测器偏振光束旋转检测入射偏振器束源偏振光变化检测偏振分量输出信号相对旋转输出相干度处理器发射

[发明专利]用于产生在增材制造中使用的几何数据的方法和设备-CN201480047367.7有效
发明人：拉姆库马尔·瑞瓦努尔;鲁裴希·巴多勒;桑杰·丹德;马尤尔·兰克什瓦尔 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2014-06-25 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G05B19/4099 文献下载
摘要：本发明涉及用于产生在增材制造过程中使用的几何数据的设备和方法。该设备包括处理单元(131)。该处理单元(131)可被布置以用于接收数据，该数据界定将在增材制造过程中一起构建的多个对象(218a、218b、218c、218d、218e、219)的表面几何形状，提供允许用户界定每一对象在共同构建体积(217)内的位置的用户接口，且对位于该共同构建体积(217)中的对象(218a、218b、218c、218d、218e、219)中的至少一个独立于位于该共同构建体积(217)中的对象(218a、218b、218c、218d、218e、219)中的另一个而实行切片操作。该切片操作确定在增材制造过程中将构建的至少一个对象(218a、218b、218c、218d、218e、219)的区段(231c、231d)。在一个实施例中，对象在阶层式数据结构中界定。用于在构建期间支撑该对象(218a、218b、218c、218d、218e、219)的支撑件(230)可参考2维支撑件横截面来界定。 1
构建制造过程处理单元几何数据支撑件界定切片阶层式数据结构表面几何形状方法和设备接收数据数据界定用户接口用户界定参考支撑制造

[发明专利]编码器设备和编码器读头-CN201480065266.2有效
发明人：西蒙·艾略特·麦克亚当 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2014-09-26 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G01D5/347 文献下载
摘要：本发明涉及编码器设备和编码器读头。该编码器设备包括：刻度尺，其包括界定至少一个刻度轨道的一系列特征；及用于读取刻度尺的特征的读头。读头包括用于照明刻度尺的至少一个光源及至少一个检测器。至少一个光源的配置使得在朝向刻度尺投射的光中存在一结构。读头被配置成使得该结构成角度，以使得其与刻度尺的特征基本上不对准，以便减少由读头输出的信号中的测量误差。
刻度尺读头编码器设备编码器读头光源检测器读取不对准投射界定配置测量输出轨道

[发明专利]在机床上进行模拟测量扫描的方法和对应的机床设备-CN201380031456.8有效
发明人：戴维·罗伯茨·麦克默特里;约翰·奥尔德;蒂姆·普雷斯蒂杰;伊恩·安斯沃思 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2013-04-16 - 公布日： 2018-06-01 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：一种使用安装在机床设备上的模拟测量探头建立用于对象的表面的测量数据组的方法，该机床设备通过多个偏移的横向移动来获得所述表面的扫描测量数据。随后的横向移动从之前的横向移动偏移，使得通过一系列横向移动，所述模拟探头的表面检测区域i)侧向地横跨所述对象并且/或者ii)远离或朝向所述对象前进。用于至少一个随后的横向移动的相对运动路线是基于在至少一个之前的横向移动过程中获得的数据生成和/或更新的。
机床设备模拟测量偏移探头相对运动路线表面检测测量数据扫描测量数据生成侧向地机床横跨扫描更新

[发明专利]增材制造设备和用于增材制造设备的光学模块-CN201680054580.X在审
发明人：保罗·坎普顿;凯里·布朗 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2016-09-21 - 公布日： 2018-05-11 - 主分类号： B22F3/105 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于通过使用能量束以逐层方式固结材料来构建物体的增材制造设备。所述增材制造设备包括用于将激光束(118)转向到所述材料上并且用于收集由所述激光束(118)与所述材料的相互作用而生成的光的光学模块(106)。所述光学模块(106)包括相对于所述激光束(118)和所收集的光所共享的光学路径成角度的分束器(178)。所述分束器(178)将所收集的光与所述激光束(118)的路径分开以用于将所收集的光引导到检测器(172)。所述光学模块(106)进一步包括校正光学元件(178a)，该校正光学元件用于校正由所述分束器(178)引入到所收集的光中的至少一个光学像差。
制造设备用于光学模块

[发明专利]应用机床查明特征的方法-CN201380027017.X有效
发明人：约翰·奥尔德;凯温·戴特 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2013-04-16 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：一种应用安装在机床上的模拟探针查明物体的特征的方法。所述方法包括所述模拟探针和/或物体遵循一运动路线，所述运动路线使得所述模拟探针的表面感测区域在连续的横越中接近待查明特征的同时多次横越穿过所述特征，以便最终进入与所述特征的位置感测关系，以便沿着横越的至少一部分收集关于所述特征的扫描的测量数据。
应用机床查明特征方法

[发明专利]选择性激光固化设备及方法-CN201480020930.1有效
发明人：本·伊恩·费拉尔 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2014-02-11 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： B22F3/105 文献下载
摘要：本发明涉及选择性激光固化设备。所述设备包括粉末床，粉末层可沉积在所述粉末床上；气流单元，其用于使气流沿气流方向(118)在所述粉末床上穿过；激光扫描单元，其用于在所述粉末层上方扫描激光束，以选择性固化所述粉末层的至少一部分从而以形成一个或多个物体；以及处理单元(131)。所述处理单元（ 131）基于所述气流方向(118)选择所述激光束的扫描次序。本发明还涉及用于选择扫描次序的方法。
选择性激光固化设备方法

[发明专利]选择性激光固化设备和方法-CN201480020782.3有效
发明人：马克·弗兰克·迪姆特;拉尔夫·马库斯·迈尔;托马斯·赫斯 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2014-02-13 - 公布日： 2018-02-23 - 主分类号： B22F3/105 文献下载
摘要：本发明描述选择性激光固化设备(2)，其包括粉末床(6；200；300)，粉末层(400；500)可以沉积在所述粉末床上；以及气流单元(30)，用于使气流沿着预定义的气流方向(G)在所述粉末床上穿过。提供激光扫描单元(20)，用于在所述粉末层(400；500)上扫描激光束(22)以选择性地固化所述粉末层(400；500)的至少部分以形成所需图案(402；502)。所述所需图案(402；502)由多个条纹或条纹区段(S1‑S12)形成，所述条纹或条纹区段通过在条纹形成方向(L)上沿着所述条纹或条纹区段(S1‑S12)推进所述激光束(22)而形成。所述条纹形成方向(L)经布置使得其始终至少部分地与所述预定义的气流方向(G)相反。本发明还描述一种相应方法。
选择性激光固化设备方法

[发明专利]校准尺寸测量设备的方法-CN201680025491.2在审
发明人：凯文·巴里·乔纳斯 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2016-03-01 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：一种尺寸测量设备被进一步校准以便改进该设备的初始误差映射或误差函数。在该设备(10)上测量已校准生产工件(14)，并且将测量值与校准值进行比较(44、90)以产生误差值。从这些误差值中的一些或全部与该初始误差映射或函数的全部或部分的组合中产生(46、92)一个或多个经更新的误差映射或函数。接着确定(48、94)经更新的映射或函数是否会产生更好的校正，且如果是的话，选择该经更新的映射或函数以供将来测量。通过选择基于新误差值和现有误差值的组合并且已确定会给出更好校正的误差映射或函数，在正常生产测量的过程期间智能地习得改进的映射或函数。
校准尺寸测量设备方法

[发明专利]校准方法和设备-CN201410049556.X有效
发明人：约翰·查尔斯·乌尔德;亚历山大·坦南特·萨瑟兰 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2008-02-18 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：描述了一种用于对设备进行校准的方法，所述设备包括安装在机器上的测量探头。所述机器能够捕获表示所述测量探头的位置的机器位置数据，所述测量探头能够捕获表示一表面相对于所述测量探头的位置的探头数据。测量探头可以是具有可偏转的触针模拟探头或者扫描探头。该方法的第一步骤包括以已知的速度相对于制品移动所述测量探头，同时捕获探头数据和机器位置数据。特别的是，所述测量探头沿着一路径移动，所述路径使得能够捕获表示所述制品的表面上的两个或者多个点相对于所述测量探头的位置的探头数据。该方法的第二步骤包括分析机器位置数据和探头数据，并且从这些数据确定捕获探头数据和机器位置数据的相对延迟（即所谓的系统延迟）。
校准方法设备

[发明专利]测量刻度-CN201480004864.9有效
发明人：马修·唐纳德·基德;尼古拉斯·约翰·韦斯顿;詹姆斯·雷诺兹·亨肖;马库斯·阿德龙;约翰·黛尔迪丝;罗伯特·汤姆森 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2014-01-13 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G01D5/34 文献下载
摘要：一种测量刻度装置，其包括至少一个刻度标记，其中所述或每一刻度标记包括表示刻度装置信息的至少一个周期性纳米结构。
测量刻度

[发明专利]增材制造设备和方法-CN201580076630.X有效
发明人：本杰明·约翰·格林菲尔德;乔纳森·芒迪;克里斯托弗·萨克利夫 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2015-12-23 - 公布日： 2017-10-17 - 主分类号： B29C64/153 文献下载
摘要：本发明涉及一种增材制造设备，其用于通过在逐层构建过程中选择性地固结可流动材料来构建零件。该设备包括惰性气体容器，该惰性气体容器包括：构建腔室(101、201、401)；用于在该构建腔室(101、201、401)中沉积材料层的分层装置(108、109)；扫描仪(106、206、406)，该扫描仪用于将能量束传送到每一层的所选区域，以固结该层的可流动材料；气体流路(160、260、460)，该气体流路用于产生通过该构建腔室(101、201、401)的惰性气流；以及冷却装置(164、264、464)，该冷却装置被布置成冷却该气体流路(160、260、460)的内表面，从而产生经冷却的惰性气体。该气体流路(160、260、460)被布置成使得该经冷却惰性气体可被传送到该构建腔室(101、201、401)中。
制造设备方法

[发明专利]用于测量光谱系统的性能的方法和设备-CN201380029284.0有效
发明人：托马斯·瑟斯顿;伊恩·贝尔;布赖恩·史密斯;安德鲁·伍尔夫雷伊;朱莉·格林 -专利权人： 瑞尼斯豪公司
申请日： 2013-04-02 - 公布日： 2017-10-03 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：一种测量光谱系统的性能的方法，该方法包括针对将由所述光谱系统识别的一组成分中的每种成分获得多个成分光谱，所述成分光谱是针对影响该成分光谱的至少一个因素的变化获得的。然后模拟样品光谱，每个样品光谱都是针对对应的潜在样品使用与用于模拟其他样品光谱的成分光谱不同的至少一个不同成分光谱和/或所述成分光谱中的至少一个成分光谱的不同量来模拟的。对所述样品光谱进行分析，以针对每个样品光谱获得所述对应的潜在样品的特征的测量数量和/或性质，并且基于所述测量数量和/或性质生成性能测量。本发明还涉及一种用于执行该方法的设备。
用于测量光谱系统性能方法