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[发明专利]用于集成电路的超低失效率分析方法、装置和计算设备-CN202310911737.8在审
发明人： 潘仲豪 -专利权人：上海超捷芯软科技有限公司
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的实施方式提供了一种用于集成电路的超低失效率分析方法、装置和计算设备。该方法包括：确定压扩因子总集合；每一压扩因子分别对应一个失效样本数量；根据预设失效阈值将压扩因子总集合拆分为第一压扩因子集合和第二压扩因子集合；确定第二压扩因子集合中每一第二压扩因子对应的采样点总数量；根据各个采样点总数量以及各个第二失效样本数量，确定第二压扩因子集合中各个第二压扩因子分别对应的压扩区间；根据第一压扩因子集合、第二压扩因子集合以及各个第二压扩因子分别对应的压扩区间，通过凸优化算法确定待估计集成电路的实际失效率。本发明能够在采样得到的失效样本数目极小的情况下，对大规模集成电路的超低失效率进行准确的估计。
用于集成电路失效分析方法装置计算设备

[发明专利]用于集成电路的超低失效率上界估计方法、装置及介质-CN202310911877.5在审
发明人： 潘仲豪 -专利权人：上海超捷芯软科技有限公司
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F30/337 文献下载
摘要：本发明的实施方式提供了一种用于集成电路的超低失效率上界估计方法、装置及介质。该方法包括：确定压扩因子集合以及压扩因子对应的采样点总数量；根据所述压扩因子集合和所述采样点总数量集合，基于仿真确定失效样本数量集合；其中，所述失效样本数量集合中包含多个失效样本数量，且所述失效样本数量集合中的失效样本数量与压扩因子集合中的压扩因子一一对应；根据所述失效样本数量集合，确定所述压扩因子集合中各个压扩因子分别对应的压扩区间；根据所述压扩因子集合以及各个压扩因子分别对应的压扩区间，通过线性规划得到所述待估计集成电路的实际失效率的实际上界。本发明提升了集成电路失效率上界确定的精确度。
用于集成电路失效上界估计方法装置介质

[发明专利]一种基于采样点数目优化的改进的Scaled Sigma Sampling方法及系统-CN202310410683.7在审
发明人： 潘仲豪 -专利权人：上海超捷芯软科技有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本发明提供一种基于采样点数目优化的改进的Scaled Sigma Sampling方法及系统，包括以下步骤：在所述初始采样点的基础上新增采样点；最小化新增采样点后实际失效率估计值的对数的方差，根据最小化结果确定所需新增采样点的实际数目；根据初始采样点的实际数目和新增采样点的实际数目确定总采样点数目；根据所述总采样点确定集成电路实际失效率的最终的准确率高的估计值；本发明的有益效果为：本发明根据最小化结果确定所需新增采样点的实际数目，然后根据初始采样点的实际数目和新增采样点的实际数目确定总采样点数目，再根据总采样点确定集成电路实际失效率的最终的准确率高的估计值，从而使得在保证失效率估计值的精度的同时有效地控制分析成本。
一种基于采样数目优化改进 scaled sigma sampling 方法系统